提高电子产品的品质实施单位:TCL国际电工事业部实施时间:2005年04月05日-2005年8月8日2公司名称TCL电气国际电工事业部项目编号项目名称提高电子产品的品质项目负责人何均匀BB项目类型■DMAIC■BB□DMADV□GB牵头部门电器附件研究所涉及流程电子产品的设计与制造涉及产品红外感应开关和声光控开关等项目成员黄晓斌GB、宋刚、乔成、温四川、曹浩、李红卫、周湘英(共8人)6σ项目立项注册表区分姓名意见倡导者卢生江已签主黑带李菊华财务确认刘小宁已签发起人王可健已签黑带/绿带何均匀已签2.基线与目标1.基本信息CTQ/Y单位现水平目标水平先进水平可靠性抑制连弧次2=1调节损坏率%0.70.2静态电流mA100.1负载功率W40-10020-2003.效果预算项目投入项目效益仪器、模具、样品18万元退货减少5万元成本降低13万元销售增加75万元总收益75万元4.日程计划D04月05日~04月28日M04月29日~05月30日A05月31日~6月10日I6月11日~7月25日C7月26日~8月8日5.现状描述:电子开关与机械开关相比:1)、可靠性较差,性能不稳定,质量退货率高,04年退货率为0.6%,为总退货率的80多倍;2)客户投诉多,04年共31次、占总投诉的80%多;3)、用户接线使用易出错,接线使用不当造成的质量投诉达70%以上;4)、产品适用范围不广,现在的产品只能接白炽灯,不能接节能灯等负载;声光控开关可控制的负载功率范围偏小,只有40-100W。5)电子产品的销售增长率为12.3%,约为机械产品的一半。6.项目范围:各系列的红外感应开关和声光控开关等。7.效果及影响:1)、年总收益=退货减少+成本降低+销售增加-投入资金=75万元;2)、增加抑制连弧次数和降低调节损坏率,可提高产品质量,降低客户投诉和质量退货,预计可降低50%;3)、减小红外感应开关静态电流和增大声光控开关的功率范围,可扩大产品适用范围,增加销售量,预计年销售量可增加15%。4)、带动其它电子产品的品质提升,提升品牌美誉度,增加其它产品的销售量。3AMICD项目背景描述选项理由:1、拓展利润空间,电子产品占总产品的比列电子产品利润率约为机械产品的两倍。2、减少客户投诉和质量退货,降低质量成本,电子产品质量退货率为产品总质量退货率的80多倍;3、增加销售量电子产品质量影响销售增长率,现增长率为12.3%,约为机械产品的一半。4、提升品牌形象,解决行业难题。概要:提高电子产品品质、降低质量成本、提升品牌形象、增加销售量、拓展利润空间。销售量1.15%销售额7.91%质量退货96.06%客户投诉81.58%销售额增长比52.30%4AMICD收益计算项目收益=成本降低+退货减少+销量增加-资金投入附加收益:1、品牌美誉度提升;2、其它电子产品的质量提升;3、其它产品销量增加。1、成本降低=材料成本降低+退货处理和客户投诉处理费减少=1元/个×10万(2005年预计销量)+3万元=13万元2、退货减少:预计目标:05年质量退货比04年减少50%,故:退货减少=04年质量退货金额×50%=10万元×0.5=5万元3、销售量增加(电子产品):1)因为质量提高,05年销售量比04年增加15%,利润率按18%计算,有:销售量增加1=04年销售额X0.15X0.18=638.2万元X0.15X0.18=17.23万元2)因为适用范围增加,05年销售量比04年增加50%,利润率按18%计算,有:销售量增加2=04年销售额X0.5X0.18=638.2万元X0.5X0.18=57.44万元合计:约75万元。4、资金投入:模具投入11.5万元,检测仪器3万元,物料、样品费用3.5万元,合计:18万元。总收益=13+5+75-18=75万元5AMICD产品选择电子产品(9大系列211个型号)声光控开关红外感应开关强电产品(6大类141个型号)弱电产品占电子产品:客户投诉比例:35.5%质量退货量比例:30.2%质量退货额比例:56.6%结论:选定声光控开关和红外感应开关为本项目改善的产品。6AMICD问题描述2004年,电子产品总出货量为825014套,质量原因退货4972PCS,退货率0.60%。质量退货的主要原因有:1)、可控硅坏:1734件,占34.88%;2)、熔丝管坏:1000件,占20.10%;连弧原因造成。3)、线路板铜铂坏:601件,占12.10%;4)、可调电阻坏:511件,占10.27%;客户调节时损坏。5)、其他问题:1126件,占22.65%。(主要指旧板产品,问题已解决)概要:产生质量问题的主要原因是:1)连弧;2)客户调节损坏。c2Percentc1Count15.313.02.1Cum%44.169.684.997.9100.01734100060151182Percent44.125.5Other可调电阻坏线路板铜铂烧坏熔丝管坏可控硅烧坏40003000200010000100806040200ParetoChartofDescription7AMICD高级流程图(SIPOC)SSuppliers现有产品缺陷分析IInputsPProcessOOutputsCCustomers实施设计更改确定更改内容制作样板验证小批量试制样板检测-用户-销售-品管-元器件、零部件厂商设计改良-产品使用要求-检测结果-元器件-使用功能-技术要求-设计文件-工艺文件-用户-销售-品管-制造8AMICDVOC及CTQ—红外感应开关VOCCTQ驱动因素红外感应开关方便、可靠可靠性提升调节简单可靠可控制负载种类增加耐冲击能力使用方便静态电流连弧次数调节损坏率<0.1mA<0.2%=1次规格9AMICDVOC及CTQ—声光控开关VOCCTQ驱动因素声光控开关方便、可靠可靠性提升负载功率范围加大耐冲击能力使用方便功率范围连弧次数20-200W=1次规格10项目团队MDAICQC温四川Champion卢生江指导MBB:李菊华Leader:何均匀BB财务核算:刘小宁技术支持乔成物流管理周湘英工艺支持曹浩*设计更改和技术支持*数据处理与分析*6sigma流程分析*产品检验和试验*数据记录和整理。生产支持李红卫*生产计划实施*生产过程控制组长GB黄晓斌技术支持宋刚*召集会议*协调各成员工作*数据分析与控制*进度控制*设计更改和技术支持*数据处理与分析*6sigma流程分析*生产工艺的完善和改进;*现有设备的改进与配置*安排电子产品的生产计划发起人:王可健11现有产品工作流程图红外线、声音传感器放大信号检测触发信号光强检测电位器调节光强延时电路电子开关及供电电路电位器调节延时时间LN控制产品工作原理图AMICD静态电流调节损坏率连弧次数12AMICD测量方案确定选择典型产品:从货仓中随机抽取有代表性的产品进行测试:1)声光控开关:CS01C;2)红外感应开关:CG01。确定测量数据:声光控开关:连弧次数(主要数据)、(冲击电流(参考数据);红外感应开关:连弧次数(主要数据)、调节损坏率(主要数据)、静态电流(主要数据)、冲击电流(参考数据)。数据类型:连弧次数-----离散型数据冲击电流-----连续型数据调节损坏率-----离散型数据静态电流-----连续型数据13测量方法及结果1、连弧次数测量1)、声光控开关:仓库中随机抽取样品10PCS,正常接通电路,用示波器并入主回路,人为烧毁负载(灯泡)监测电路波形及冲击电流大小,每个产品测量10次。如图:声光控开关LN2、红外感应开关:样品数为5PCS,测量方法同声光控开关。AMICDR示波器14连弧次数43210Dotplotof连弧次数测量数据及结果—连弧次数点图分析AMICD红外感应开关连弧次数76543210Dotplotof连弧次数Eachsymbolrepresentsupto2observations.声光控开关测试数据和点图表明:1、现有的产品对连弧没有抑制能力,连弧在一次以上的机会很大。2、冲击电流很容易超过可控硅抗冲击电流的最大值(160A),产品被损坏的可能性较大。15测量方法及结果2、调节损坏率测量1)、样品:从仓库中随机抽取50PCS红外感应开关CG01。2)、测量方法:用扭力计采用0.5N.cm的力矩(模拟实际使用状态)进行调节。3)、计算公式:调节损坏率=损坏个数/总个数4)、检测结果:测量总数=50PCS,损坏个数=50PCS,损坏率100%。AMICD16测量方法及结果3、静态电流测量1)、随机抽取红外感应开关(CG01)25PCS,接入电路,串联万用表于回路中,如图:感应开关万用表LN2)、产品处于关断状态,选用两个人测量,每个产品测量10次。AMICD17静态电流测量系统的MSA分析AMICDPercentPart-to-PartReprodRepeatGageR&R100500%Contribution%?Study?VarSampleStDev0.0090.0060.003_S=0.005203UCL=0.008930LCL=0.00147612SampleMean19.3519.2019.05__X=19.1095UCL=19.1146LCL=19.104412SampleNo5432119.2019.0518.90Operator2119.2019.0518.90SampleNoAverage5432119.3519.2019.05Operator12Gagename:Dateofstudy:Reportedby:Tolerance:Misc:ComponentsofVariationSChartbyOperatorXbarChartbyOperatormeasurement2bySampleNomeasurement2byOperatorOperator*SampleNoInteractionGageR&R(ANOVA)formeasurement2从上图可以看出:静态电流的测量系统满足测量需求。18现有产品静态电流的过程能力AMICDIndividualValue25232119171513119753119.018.518.0_X=18.537UCL=19.046LCL=18.029MovingRange2523211917151311975310.500.250.00__MR=0.1913UCL=0.6249LCL=0ObservationValues25201510518.918.618.318.818.618.418.219.218.818.418.0WithinOverallSpecsWithinStDev0.169548Cp0.1Cpk-36.25CCpk0.1OverallStDev0.189278Pp0.09Ppk-32.47Cpm*ProcessCapabilitySixpackofDataIChartMovingRangeChartLast25ObservationsCapabilityHistogramNormalProbPlotAD:0.368,P:0.403CapabilityPlot结论:Cpk=-36.25,说明现有产品静态电流的过程能力远远不能满足要求。19AMICDM阶段小结焦点问题:1、连弧次数不可控:1)、现有的产品对连弧没有抑制能力,连弧次数是随机的。2)、冲击电流很容易超过可控硅抗冲击电流的最大值(160A),产品被损坏的可能性较大。2、调节损坏率高:现有红外感应开关的感光度调节旋钮调节损坏率为100%。3、静态电流太大:现有红外感应开关的静态电流的过程能力远远不能满足要求。4、功率范围偏小:现有声光控开关的功率范围为40—100W,不能满足客户的更多需求。20123456ABCD654321DCBATitleNumberRevisionSizeBDate:28-Jun-2005SheetofFile:E:\设计\声光控-第一枪\声光控-第一枪.ddbDrawnBy:R2CDS1VCCRW1R1AMICD改进措施分析: