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SPC管制圖公式說明計數值管制圖公式說明P-管制圖NP-管制圖C-管制圖U-管制圖柏拉圖SPC管制圖公式說明計量值管制圖公式說明Xbar-R管制圖Xbar-σ管制圖Xmed-R管制圖X-Rm管制圖直方圖6σ管制圖σs管制圖σa管制圖不良率管制圖(P-管制圖)P圖或稱不良率管制圖,是一种計數值管制圖,可用來偵測或管制一個生產批中不良伯數的小數比或百分比。分析或管制制程不良率,樣本大小n可以不同。1.計算不良數及不良率(各組的不良率)(各組不良率的平均值)2.計算管制界線SPC管制圖公式說明SPC管制圖公式說明不良率管制圖(P-管制圖)不良數管制圖(NP-管制圖)NP圖或稱不良數圖,是一種計數值管制圖,可用來偵測一個生產批中的汪良件數,分析或管制制程不良數,樣本大小n要相同。1.計算平均不良數及不良率2.計算管制界線SPC管制圖公式說明SPC管制圖公式說明不良數管制圖(NP-管制圖)缺點數管制圖(C-管制圖)C圖或稱缺點數管制圖,是一种計數值管制圖,能在每一批量的生產中偵測出篛一零件或受驗單位不良點的數目。分析或管制制程缺點數,樣本大小n要相同。1.計數平均缺點數2.計算管制界線SPC管制圖公式說明SPC管制圖公式說明缺點數管制圖(C-管制圖)SPC管制圖公式說明單位缺點數管制圖(U-管制圖)U圖或稱單位缺點數管制圖,是一種計數值管制圖,記錄一個抽樣批有幾個缺點數,抽樣時每次可以不相同,但以單位缺點數代表品質水準。分析或管制制程單位缺點數,樣本大小n可以不同。符號說明:n:檔本大小(檢查的單位數)*c:各組的缺點數u:各組的單位缺點數u:各組單位缺點數的平均值,即是單位缺點數管制圖的中心線。SPC管制圖公式說明單位缺點數管制圖(U-管制圖)1.計算平均單位缺點數2.計算管制界線SPC管制圖公式說明單位缺點數管制圖(U-管制圖)SPC管制圖公式說明柏拉圖(Pareto)柏拉圖:是一種特殊型式的長條圖,它將最常發生的問題記錄在第一個長條中,次多發生問題記在第二個長條中,以此類推。將憶建檔之柏拉圖數據檔以不良/缺點項目依數量之大小排列,橫座標為不良/缺點項目,縱座標為不良/缺點數量或累積百分比,供品管人員以少數的重點項目為改善之對象。SPC管制圖公式說明柏拉圖(Pareto)平均數-全距管制圖(Xbar-R管制圖)為在制程上探究平均數是否位於規格中心,故一方面以平均數或中位數管制平均數之變化,另一方面以全距管制其差異,平均數與全距管制圖即因此种目的而設計使用。計算各樣組的平均數計算這些組平均數的平均數SPC管制圖公式說明平均數-全距管制圖(Xbar-R管制圖)繪製管制界限，將、R點繪入管制圖內，並以直線連接之。註：1．A2、D3、D4可經由查表得之。2．品質數據可以合理分組時，為分析或管制制程平均使用X管制圖，對製程變異使用R-管制圖。3．工業界最常使用的計量值管制圖。SPC管制圖公式說明平均數-全距管制圖(Xbar-R管制圖)SPC管制圖公式說明平均數-標準差管制圖(Xbar-Q管制圖)與一般計量值管制圖一樣,以平均數管制圖管制品質之中心尺寸，以標準差管制圖管制品質的差異性。計算各樣組的平均數計算這些組平均數的平均數SPC管制圖公式說明平均數-標準差管制圖(Xbar-Q管制圖)SPC管制圖公式說明平均數-標準差管制圖(Xbar-Q管制圖)附:標準差s的求法在不同的環境它的符號表示不同:有時叫S,有時叫σ;1)計算各組和及其總和2)計算各組平方和及其平方總和3)計算各組偏差平方和及偏4)計算各組變異數及標準差差總平方和SPC管制圖公式說明中位數與全距管制圖(Xmed-R管制圖)此一圖形較Xbar-R容易使用，但不適於所有之作業。此圖形適用於：(1)知其常態分配。(2)不常受非機遇原因干擾。(3)操作員容易調整操作。*若以上條件不符就須使用Xbar-R圖。SPC管制圖公式說明中位數與全距管制圖(Xmed-R管制圖)計算各樣組的中位數計算這些組中位數的平均數繪製管制界限，將Xbar、R點繪入管制圖內，並以直線連接之。註：D3、D4、m3A2可經由查表得之。SPC管制圖公式說明中位數與全距管制圖(Xmed-R管制圖)SPC管制圖公式說明個別值-移動全距管制圖(X-Rm管制圖)個別值與移動全距管制圖，於一單位時間內隨機抽取一個加以測定而得到單一數值所點繪之管制圖。移動全距管制圖係因每一單位時間內只一個樣本故採移動方式求其全距而點繪之管制圖。採用X-Rm管制圖之理由：1.所選取的樣本是一種混合很完全之液體或是溫度壓力等的管制。2.分析或測定一件產品要花費很多的時間與金錢。3.產品製造不易。4.屬於破壞性之試驗。5.品質數据能合理分組時，為了提高檢出力，盡量使用XBar-R管制圖。SPC管制圖公式說明個別值-移動全距管制圖(X-Rm管制圖)移動全距管制圖，其管制界限之計算需依照移動參數(k)計算全距。SPC管制圖公式說明個別值-移動全距管制圖(X-Rm管制圖)SPC管制圖公式說明直方圖將收集的測定值或數據之全距分為幾個相等區間作為橫軸，並將各區間內之測定值所出現次數累積而成的面積以條狀方式排列起來所產生的圖形，稱之為直方圖。次數分配的目的：1.瞭解分配型態2.研究製程能力3.工程解析與管製4.分配型態的統計檢定計算組數：利用查表或使用下列公式推導求組數。查表:數據數組數50~1006~10100~2007~12250以上10~20SPC管制圖公式說明直方圖公式：k=1+3.32log(n)k：組數n：測定次數計算全距：由全體數據中找出最大值與最小值之差。決定組距：為便於計算平均數與標準差，組距常取2、5、10的倍數。組距=全距/組數組中點=(上組界+下組界)/2決定各組之上下組界：先求出最小一組的下組界，再求出上組界依此類推，計算至最大一組之組界。最小一組下組界=最小值-測定值之最小位數/2最小一組上組界=下組界+組距SPC管制圖公式說明直方圖SPC管制圖公式說明6σ管制圖6σ圖：樣本在（實際標準差）、（規格標準差）中之品質水準圖形，以折線圖形方式顯示。Cp製程潛力（Cp，Processpotential）Cp係一項有關製程之指數，為容差範圍對六個σ離開之比率，Cp值之計算，應於製程已達於統計學之管制中狀態時為之。Pp初期製程潛力（Pp，Preliminaryprocesspotential）Pp初期製程潛力，為一項類似於Cp之指數；但本項指數這計算，係以新製程之初期短程性研究所得之數據為基礎。取得之製程數據，至少應包括該製程初期評估時之二十組數據。但計算時，應於取得之數據足以顯示該製程已接近穩定狀態時實施量產。Cpk製程能力（Cpk，Processcapability）SPC管制圖公式說明6σ管制圖Cpk係一項在關製程之指數，計算時須同時兼顧製程之離勢、及該離勢接近於規格界限之程度。Cpk值之計算，應在該製程已達於統計學之管制狀態時為之。Ppk初期製程能力（Ppk，Preliminaryprocesscapability）Ppk為一項類似於Cpk之指數；但本項指數之計算，係以新製程之初期短程性研究所得之數據為基礎。取得之製程數據，至少應包括該製程初期評估時之二十組數據。但計算時，應於取得之數據足以顯示該製程已接近穩定狀態時實施量產。SPC管制圖公式說明6σ管制圖雙邊規格：單邊規格：USL：工程規格上限LSL：工程規格下限品質之高低，分成下列各級指標：SPC管制圖公式說明6σ管制圖SPC管制圖公式說明SPC管制圖公式說明σs管制圖σs圖：以實際標準差計算得出之Cp，Cpk與樣本分佈之圖形．和要求標準差水準之常態曲線作重疊之比較，並依據實際之要求標準差水準作範圍調整。在此處先以『製程標準差』繪製出實際各樣本之分佈點，再繪出以『規格標準差』為主之常態曲線圖。σs與σa比較之圖形判讀說明：此處σa為製程標準差此處σs為規格標準差當σs＝σa：要求之品質水準已達到。當σsσa：仍未達到要求的品質水準。當σsσa：可能是出現下列二種情況1.規格界限不恰當2.超越了現在要求的品質σs管制圖SPC管制圖公式說明σa管制圖σa圖：以實際標準差計算得出之Cp，Cpk與樣本分佈之圖形．和要求標準差水準之常態曲線作重疊之比較，並依據實際之要求標準差水準作範圍調整。在此處先以『規格標準差』繪製出實際各樣本之分佈點，再繪出以『製程標準差』為主之常態曲線圖。σs與σa比較之圖形判讀說明：此處σa為製程標準差此處σs為規格標準差當σs＝σa：要求之品質水準已達到。當σsσa：仍未達到要求的品質水準。當σsσa：可能是出現下列二種情況1.規格界限不恰當2.超越了現在要求的品質SPC管制圖公式說明σa管制圖SPC管制圖公式說明