搜索
1第七章原子吸收光谱法atomicabsorptionspectrometry,AAS第一节基本原理basicprincipleofAAS第二节原子吸收光谱仪interferencesanddelimination第三节干扰及其抑制interferencesandelimination第四节分析条件的选择与应用choiceofanalyticalconditionandapplication一、光谱干扰及抑制spectruminterferenceandelimination二、物理干扰及抑制physicalinterferenceandelimination三、化学干扰及抑制chemicalinterferenceandelimination四、背景干扰及抑制backgroundinterferenceandelimination第三节干扰及其抑制interferencesandelimination一、光谱干扰及抑制待测元素的共振线与干扰谱线分离不完全，这类干扰主要有以下几种：1.待测元素的分析线与邻近线重叠。e.g.Cu2165Å与2178Å。狭缝较宽时出现同时吸收消除方法:调小狭缝来抑制这种干扰。2.待测元素分析线与共存元素的吸收线重叠e.g.Fe2719.025ÅPt2719.038Åe.g.Cu2165Å与2178ÅPb2170Å消除方法:减小狭缝,降低灯电流,或换其它分析线.二、物理干扰及抑制产生的原因指试液与标准溶液物理性质的差别而产生的干扰。溶液的粘度、表面张力或密度等变化，影响样品雾化效率和气溶胶到达火焰的传递等会引起的原子化效率与吸光度的改变。消除方法配制与被测试样组成相近的标准溶液。用标准加入法进行定量分析。浓度高的溶液可用稀释法。三、化学干扰及抑制指待测元素与其它组分之间的化学作用所引起的干扰效应,主要影响到待测元素的原子化效率，是主要干扰源。1.化学干扰的类型（1）待测元素与其共存物质作用生成难挥发的化合物，致使参与吸收的基态原子减少。例：a、钴、硅、硼、钛、铍在火焰中易生成难熔化合物b、硫酸盐、硅酸盐与铝生成难挥发物。（2）待测离子发生电离反应，生成离子，不产生吸收，总吸收强度减弱，电离电位≤6eV的元素易发生电离，火焰温度越高，干扰越严重，（如碱及碱土元素）。2.化学干扰的抑制通过在标准溶液和试液中加入某种光谱化学缓冲剂来抑制或减少化学干扰：（1）释放剂—与干扰元素生成更稳定化合物使待测元素释放出来。例：锶和镧可有效消除磷酸根对钙的干扰。（2）保护剂—与待测元素形成稳定的络合物，防止干扰物质与其作用。例：加入EDTA生成EDTA-Ca，避免磷酸根与钙作用。（3）电离缓冲剂—加入大量易电离的一种缓冲剂以抑制待测元素的电离。例：加入足量的铯盐，抑制K、Na的电离。四、背景干扰及校正方法背景干扰主要是指原子化过程中所产生的光谱干扰，主要有分子吸收干扰和光散射干扰，干扰严重时，不能进行测定。1.分子吸收与光散射分子吸收：原子化过程中，存在或生成的分子对特征辐射产生的吸收。分子光谱是带状光谱，势必在一定波长范围内产生干扰。如H2SO4和H3PO4在测定波长＜250nm时，吸收很强，而HNO3和HCl吸收很小。光散射：原子化过程中，存在或生成的微粒使光产生的散射现象。背景干扰产生正误差，石墨炉原子化法比火焰法产生的干扰严重如何消除？2.背景干扰校正方法(1)氘灯连续光谱背景校正旋转斩光器交替使氘灯提供的连续光谱和空心阴极灯提供的共振线通过火焰；连续光谱通过时：测定的为背景吸收(此时的共振线吸收相对于总吸收可忽略)；共振线通过时，测定总吸收；差值为有效吸收；（2）塞曼(Zeeman)效应背景校正法Zeeman效应：在磁场作用下简并的谱线发生裂分的现象；校正原理：原子化器加磁场后，随旋转偏振器的转动，当平行磁场的偏振光通过火焰时，产生总吸收；当垂直磁场的偏振光通过火焰时，只产生背景吸收；校正方式：光源调制法和共振线调制法（应用较多），后者又分为恒定磁场调制方式和可变磁场调制方式。优点：校正能力强（可校正背景A1.2～2.0）；可校正波长范围宽：190～900nm；恒定磁场调制方式(吸收线调制)——磁场加在原子化器上(使用广泛)。吸收线分裂为π和两个σ±，π组分平行于磁场方向波长不变，σ±组分垂直于磁场方向，波长分别向长波和短波方向移动。光源发射线通过偏振器后变为垂直于磁场方向的偏振光，通过原子化器时，只有背景吸收，没有原子吸收。光源发射线通过偏振器后变为平行于磁场方向的偏振光，通过原子化器时，π组分吸收+背景吸收。两者之差即为有效原子吸收