EJT1067-1998-X射线荧光分析用镅-241源

ICS27.120.30F51EJ/T1067—1998X射线荧光分析用镅241源Americium-241sourcesfluorescenceanalysisforX-ray1998-03-25发布1998-09-01实施中国核工业总公司1998-03-25批准中国核工业总公司发布前言1989年颁布的GB11808在实施中发现尚不够完善，同时为了适应有关新发布或修订的国家标准、核行业标准以及标准调整之需要，在GB11808—89的基础上修订形成了本标准。本标准按照EJ/T804—93规定，重新编写了产品代号。为了保证源的使用安全与环境安全，增加了源的表面污染和泄漏水平两项技术要求，根据源的实际使用经验，增加了对源芯松动及外形尺寸要求，并规定了相应的检验方法。为适应生产过程中源活度、特定光子发射率的测量，修改了测量方法，在保证总不确定度不变的前提下，使之更易操作。鉴于本标准的使用范围较窄，将其调整为推荐性核行业标准。本标准从生效之日起，代替GB11808—89。本标准由全国核能标准化技术委员会提出并归口。本标准起草单位：中国原子能科学研究院同位素研究所。本标准主要起草人：卢玉楷。1范围本标准规定了X射线荧光分析用镅241源的产品分类、技术要求、测试方法等。本标准适用于X射线荧光分析用镅241密封放射源（以下简称源）。2引用标准下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准昀新版本的可能性。GB4075—83密封放射源分级GB4076—83密封放射源一般规定GB11806—89放射性物质安全运输规定GB15849—1995密封放射源的泄漏检验方法GB/T2828—81逐批检查计数抽样程序及抽样表（适用于连续批的检查）EJ/T804—93放射性同位素产品代号3定义本标准采用下列定义。3.1特定光子发射率specificphotonemissionrate在指定方向每秒每球面度源发射的特定能量光子数(s-1·sr-1)。3.2背透率backingemissionrate源工作面背面的光子发射率与源工作面光子发射率之比，以百分数表示。4产品分类及源结构4.1产品分类按源外形分为两类：a）圆柱源；b）环状源。4.2源结构圆柱源与环状源的结构分别示于图1及图2.图1圆柱源结构示意图图2环状源结构示意图4.2.1圆柱源尺寸及代码圆柱源尺寸及代码见表1。表1圆柱源尺寸及代码mm外径活性区直径高度尺寸代码10.07.05.0010.88.05.0110.07.06.5210.87.26.5315.010.66.544.2.2环状源尺寸及代码环状源尺寸及代码见表2。表2环状源尺寸及代码外径内径活性区宽度高度尺寸代码38.022.54.06.504.3产品代号依EJ/T804—93之原则，产品代号用RSAM2412xxxxxx表示。RS为放射源代号；AM为元素代号；241为镅241质量数；2为γ源的代码；第一个x是放射源形状代码，当为2时系圆柱源，为7时系环状源；第二个X为源之几何尺寸代码；之后的三个xxx为源名义活度代码，以37MBq的倍数值示出，昀后一个x为源窗代码，1为铍窗，2为不锈钢窗。5技术要求5.1源结构要求5.1.1源结构应满足安全性能及光子发射率的要求。5.1.2源芯与源壳的配合不得出现松动现象。5.2源外形尺寸公差5.2.1圆柱源外径尺寸公差为。mm5.00+5.2.2环状源内径尺寸公差为。mm5.00+5.3源活度限值应符合GB4075—83中3.2之规定。5.4241Am原料中放射性杂质限值能量高于100keV的γ杂质活度，不得大于总活度的0.1%。5.5源表面污染限值表面污染应不大于185Bq。5.6源泄漏水平限值泄漏水平应不大于200Bq。5.7名义活度值、特定光子发射率和安全性能分级等级源名义活度值、特定光子发射率应分别满足表3及表4的要求。安全性能分级等级应达到GB/C33222的要求。表3圆柱源的名义活度值、特定光子发射率特定光子发射率s-1·sr-1产品代号名义活度值MBq(mCi)17.7keV59.5keVRSAM241220001237(1)—8×105RSAM2412200032111(3)—2.5×106RSAM2412200052185(5)—4×106RSAM2412200102370(10)—8×106RSAM2412200202740(20)—1.6×107RSAM24122003021110(30)—2.4×107RSAM24122110023700(100)—5.3×107RSAM2412220101370(10)1.9×1068.6×106RSAM24122203011110(30)7×1062.6×107RSAM24122310013700(100)1×1076.7×107RSAM24122410013700(100)1.8×1077.8×107表4环状源名义活度值、特定光子发射率特定光子发射率s-1·sr-1产品代号名义活度值MBq(mCi)17.7keV59.5keVRSAM2412700301110(30)9×1062×107RSAM24127010013700(100)3×1076.5×107RSAM241270500118500(500)6.7×1072.8×1085.8特定光子发射率值的总不确定值特定光子发射率测定值的总不确定度不得大于10%。5.9背透率背透率不得影响X射线荧光分析元素的检测限。5.10推荐安全使用期推荐使用期10a。6测试方法6.1源芯与源壳配合检验将源放入开有测量孔的屏蔽室中，源与屏蔽室紧密相配，（测量孔直径与源活性区直径相同）。模拟实际应用的振动至少3次，在测量条件不变的条件下，测量振动后的γ计数率。每次振动后的计数率与未振动时的γ计数率之差应不大于未振动时γ计数率的±5%。6.2外形尺寸检验6.2.1圆柱源用环规检验。通过通规的源为合格。环规的尺寸、制造材料、硬度和粗糙度应符合量具要求。6.2.2环状源用测量环状源内径的塞规检验。能放入通规的源为合格。塞规尺寸的制造材料、硬度和粗糙度应符合量具要求。6.3特定光子发射率的相对测量6.3.1测量装置采用带铍窗的薄NaI(Tl)闪烁探头或带铍窗的HpGe或Si(Li)半导体晶体为探测器的小立体角测量装置。NaI(Tl)晶体厚度3～5mm，直径不小于40mm；HpGe晶体厚度3～6mm，直径不小于30mm。a）探测器、光栏、源在同一轴线上；b）光栏可换，孔径能准确测量，其总不确定度小于0.3%；c）源与光栏的距离可调并可准确测量，其总不确定度小于0.3%；d）光栏直径、源与光栏距离的确定，以测量系统对源光子发射率死时间校正不超过±2%为宜；e）测量装置的圆柱室内半径不小于圆柱室壁厚的10倍。6.3.2对标准源的要求6.3.2.1标准源的结构和制备工艺应与产品源相一致。6.3.2.2标准源的光子发射率测量值（源工作面法线方向的特定光子发射率）的总不确定度应不大于5%。6.3.3对产品源的要求产品源与标准源的特定光子发射率应尽量接近,相差不超过2倍。6.3.4测量方法有探测器、光栏、源同心轴线上，按照6.3.1中d的要求，调节好光栏孔径、源与光栏的距离，用标准源刻度小立体角测量装置，在完全相同的条件下，测量产品源。产品源特定光子发射率计算公式如下：标标InnI•=产式中：I——产品源的特定光子发射率，s-1·sr-1；n产——测得的产品源特定光子计数率，s-1；n标——测得的标准源特定光子计数率，s-1；I标——标准源的特定光子发射率，s-1·sr-1。特定光子发射率测定值的总不确定度应不大于10%。6.4241Am原料中放射性杂质测量使用经刻度的Si(Li)、HpGe半导体探测器或其它合适方法测定。6.5源表面污染检验表面污染按GB4076—83规定检验。6.6源泄漏检验泄漏检验按GB15849—1995规定进行。6.7背透率检验背透率检验参考6.3.4进行。7产品检验7.1型式检验只有通过本条规定的检验方能正式生产。型式检验项目按5.1、5.2、5.4、5.5、5.6和5.7规定进行。7.2出厂检验7.2.1产品检验和证书按GB4076—83执行。7.2.2批量产品出厂前，由生产单位质量检验部门按照GB/T2828—81进行抽样检验。检验水平采用一般检查水平Ⅱ。合格质量水平规定见表5。表5合格质量水平（AQL）检验项目AQL表面污染水平0.4泄漏水平0.4特定光子发射率偏差2.5源芯松动1外形尺寸1其它指标（表观等）2.58标志、包装、运输及贮存8.1产品标志应符合GB4076—83中第5章的规定。8.2包装、运输按照GB11806—89执行8.3贮存生产厂家应根据产品特性制定贮存规定，规定至少应包括下述内容：a）贮存场所；b）贮存条件。————————————