IC来料检验规范

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资源描述

CRIMAJMIN 1.型号不符○2.尺寸超差○ 1.丝印模糊○2.引脚歪斜○ 3.引脚断○○○○ 5.主体破裂○○○ 2.功能不良○品名:IC抽样水准:使用GB2828.1-2003Ⅱ正常单次抽样水准 CRI=0 MAJ=0.4MIN=1.0检查项目不良描述不良判定标准仪器/方法判定编制:          审核:          批准:30W电烙铁 粘锡面积≥2/3。 1.粘锡不良 粘锡面积<2/3。30W电烙铁参照规格书要求IC测试治具特性外观 字迹标识不清楚。 主体破损、裂开。卡 尺规格 4.引脚氧化 参照图纸。目 测 影响引脚的导电性能。目 测目 测文件编号版次A.0生效日期页码1目 测来料检验规范 不会影响引脚的导电性能。 对照BOM表目 测目 测封装不对目 测引脚左右,上下歪目 测 参照合格品。

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