北邮电磁场实验-用谐振腔微扰法测量介电常数

北京邮电大学电磁场与微波测量实验实验六用谐振腔微扰法测量介电常数学院：电子工程学院班级：2011211207组员：邹夫、李贝贝、马睿执笔：李贝贝目录1.实验目的.......................................................................................................................................12.实验原理.......................................................................................................................................13.实验装置.......................................................................................................................................34.实验内容.......................................................................................................................................35.实验数据.......................................................................................................................................46思考题...........................................................................................................................................47.实验总结.......................................................................................................................................51/51.实验目的1、了解谐振腔的基本知识。2、学习用谐振腔法测量介质特性的原理和方法。2.实验原理本实验是采用反射式矩形谐振腔来测量微波介质特性的。反射式谐振腔是把一段标准矩形波导管的一端加上带有耦合孔的金属板，另一端加上封闭的金属板，构成谐振腔，具有储能、选频等特性。谐振条件：谐振腔发生谐振时，腔长必须是半个波导波长的整数倍，此时，电磁波在腔内连续反射，产生驻波。谐振腔的有载品质因数QL由下式确定：210fffQL式中：f0为腔的谐振频率，f1，f2分别为半功率点频率。谐振腔的Q值越高，谐振曲线越窄，因此Q值的高低除了表示谐振腔效率的高低之外，还表示频率选择性的好坏。如果在矩形谐振腔内插入一样品棒，样品在腔中电场作用下就会极化，并在极化的过程中产生能量损失，因此，谐振腔的谐振频率和品质因数将会变化。图1反射式谐振腔谐振曲线图2微找法TE10n模式矩形腔示意图电介质在交变电场下，其介电常数ε为复数，ε和介电损耗正切tanδ可由下列关系式2/5表示：j，tan，其中：ε，和ε，，分别表示ε的实部和虚部。选择TE10n，(n为奇数)的谐振腔，将样品置于谐振腔内微波电场最强而磁场最弱处，即x＝α／2，z＝l／2处，且样品棒的轴向与y轴平行，如图2所示。假设：1．样品棒的横向尺寸d(圆形的直径或正方形的边长)与棒长九相比小得多(一般d／h1／10)，y方向的退磁场可以忽略。2．介质棒样品体积Vs远小于谐振腔体积V0，则可以认为除样品所在处的电磁场发生变化外，其余部分的电磁场保持不变，因此可以把样品看成一个微扰，则样品中的电场与外电场相等。这样根据谐振腔的微扰理论可得下列关系式000)1(2VVfffSs041VVQSL式中：f0,fs分别为谐振腔放人样品前后的谐振频率，Δ(1／QL)为样品放人前后谐振腔的有载品质因数的倒数的变化，即011)1(LLSLQQQQL0，QLS分别为放人样品前后的谐振腔有载品质因数。3/53实验装置实验装置示意图如下：1—微波信号源2—隔离器3—衰减器4—波长表5—测量线6—测量线晶体7—选频放大器8—环形器9—反射式谐振腔10—隔离器11—晶体检波器（1）微波信号源需工作在最佳等幅、扫描状态。（2）晶体检波器接头最好是满足平方律检波的，这时检波电流表示相对功率(I∝P)。（3）检波指示器用来测量反射式谐振腔的输出功率，量程0～100μA。（4）微波的频率用波长表测量刻度，通过查表确定微波信号的频率。（5）用晶体检波器测量微波信号时，为获得最高的检波效率，它都装有一可调短路活塞，调节其位置，可使检波管处于微波的波腹。改变微波频率时，也应改变晶体检波器短路活塞位置，使检波管一直处于微波波腹的位置。4.实验内容1．按图接好各部件。注意：反射式谐振腔前必须加上带耦合孔的耦合片，接入隔离器及环形器时要注意其方向。2．开启微波信号源，选择“等幅”方式，预热30分钟。3．测量谐振腔的长度，根据公式计算它的谐振频率，一定要保证n为奇数。4．将检波晶体的输出接到电流表上，用电流表测量微波的大小，在计算的谐振频率附近微调微波频率，使谐振腔共振，用直读频率计测量共振频率。5．测量空腔的有载品质因数，注意：f1，f2与f0的差别很小，约0．003GHz。6．加载样品，重新寻找其谐振频率，测量其品质因数。7．测量介质棒及谐振腔的体积。4/58．计算介质棒的介电常数和介电损耗角正切。5.实验数据（介质棒颜色为褐色）由样品谐振腔的长66mm，宽22.86mm，高10.16mm可得V0=15329.000立方毫米由样品半径0.7mm，高10.16mm可得Vs=15.632立方毫米由样品谐振频率以及半功率点频率可以计算出样品谐振腔的品质因数（f0=9262MHzf1=9256MHzf2=9266MHz）210fffQLo=92629266−9256=926.2样品插入后，由谐振频率以及半功率点频率可以计算出样品放入后的品质因数（fs=9226MHzf1=9220MHzf2=9231MHz）21ssfffQL=92269231−9220=838.7联立实验原理中的各式可求得介质棒的介电常数与介电损耗角正切。j=2.91-j0.028tan=0.09496.思考题1.如何判断谐振腔是否谐振？答：在谐振频率处会出现一吸收峰，反映在示波器上是一跌落点，从而判断何处谐振。2.本实验中，谐振腔谐振时，为什么“必须是奇数”？答：为了得到单一的电磁波。在本实验所使用的仪器安装及测量方式中，诸如TE102等n为偶数的模式会受到抑制。对于TE101模式的电磁场，各边缘中心处切向磁场均可达到最大值，此四处开耦合窗均可达到电感耦合的效果；而TE102模式的电磁场在本装置开窗处所有分量全部为零，能量无法耦合到下一个谐振腔。3.若用传输式谐振腔如何测量介质的介电常数，可否画出实验装置。5/5答：传输式谐振腔与反射式谐振腔的最大差别在于谐振时达到最大值的峰值而非吸收峰，因此下图模式的接法（与本实验基本相同）即可，只不过观察吸收峰变为了观察极大值点。7.实验总结谐振腔微扰法测量介电常数是一个操作起来较为简单的实验，但由于我们这一组实验仪器出了问题，于是最终借助其他组的仪器进行测量。进行实验前我们先要理解实验原理，了解要测的数据，该实验用了一台之前的实验中没有用到的仪器——示波器，让我们回顾与练习了示波器的使用方法。实验结束后，整理实验数据，进行计算，得出空白介质与有褐色介质棒时的介电常数。