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LATCHUP测试LATCHUP测试。但是，以前我没做过类似的工作，因为以前的公司的芯片LATCHUP测试都是找宜硕这样的公司进行测试。LATCHUP测试主要分为VSUPPLYOVERVOLTAGETEST，ITEST。Itest又分为PIT（POSITIVEITEST)和NIT(NEGATIVEITEST)。不过我们公司还增加了PVT(positivevoltagetest）和NVT（negativevoltagetest）。在JESD78D规范（这个可以从JEDEC网站上下到）上提到latchup的测试流程。首先待测试的IC需要经过ATE测试，保证功能是正常的。然后首先进行I-TEST，如果I-TESTFAIL，那这颗芯片就没PASS，如果通过了I-TEST，然后再进行OVERVOLTAGETEST;如果此时ICFAIL，那么这颗芯片就没有通过LATCHUPTEST,这些通过I-TEST和OVERVOLTAGETEST的芯片还要再进行ATE测试来确认芯片的功能是否正常。但是好多公司最后的ATE测试都省了。VSUPPLYOVERVOLTAGETEST，主要是对芯片的电源引脚进行过压测试，如果芯片有多个电源引脚，每个电源引脚都要进行测试。测试条件：一般是对电压引脚进行一个1.5XMAXVSUPPLY的TRIGGER测试，1）其他引脚接LOGICHIGH,2）其他引脚接LOGICLOW。这两种情况都要进行测试。PIT测试是对除电源和地外的其他I/O引脚进行测试。电源接VCC，1）所有引脚接LOGICHIGH,然后给待测试引脚来一个POSITIVETRIGGERCURRENTPULSE。2）所有引脚接LOGICLOW,然后给待测试引脚来一个POSITIVETRIGGERCURRENTPULSE。NIT测试是对除电源和地外的其他I/O引脚进行测试。电源接VCC，1）所有引脚接LOGICHIGH,然后给待测试引脚来一个NegativeTRIGGERCURRENTPULSE。2）所有引脚接LOGICLOW,然后给待测试引脚来一个NegativeTRIGGERCURRENTPULSE。LATCHUP失效判定标准：如果INOM=25mA,经过LATCHUP测试之后，发现电流INOM+10,则该芯片没有PASSLATCHUP测试。如果INOM25mA,经过LATCHUP测试之后，发现电流1.4XINOM,则该芯片没有PASSLATCHUP测试。LATCHUP测试前后的电流对比差异，看有没有发生拴锁？通常芯片经过LATCHUP测试前后的电流变化很小。