BH1216Ⅲ型二路低本底α、β测量仪操作规程

1BH1216Ⅲ型二路低本底α、β测量仪操作规程1、BH1216Ⅲ型二路低本底α、β测量仪程序操作说明1.1操作程序描述1.1.1开关仪器打开仪器的顺序是：打开BH1216-Ⅲ测量单元低压电源→高压电源→显示器→计算机主机，进入WindowsXP(或Windows98/2000/ME)。关机的顺序是：计算机主机→显示器→高压电源→低压电源(BH1216-Ⅲ)。打印机在打印数据时打开，不打印时请关闭。注：在长时间的测量过程中，计算机的显示器可以关闭，但主机切勿关闭。在BH1216-Ⅲ应用程序操作过程中以下所说的“单击”、“双击”是指用鼠标左键“单击”或“双击”某个要选准的菜单或按钮。1.1.2鼠标指向[开始]菜单中的[BH1216-Ⅲ]菜单并双击，就启动了[BH1216-Ⅲ]程序。在屏幕出现“欢迎使用BH1216-Ⅲ型低本底αβ测量仪”之后，进入[BH1216-Ⅲ]主菜单。1.1.3[BH1216-Ⅲ]主菜单如图1，共有六项：文件，设置，测量，数据，开始/停止，质量控制图。图1BH1216-Ⅲ主菜单（1）[文件]子菜单包括：存文件，打开文件，打印文件，条件打印，退出，如图2。图2[文件]子菜单的下拉菜单（1）[设置]子菜单的下拉菜单如图3，在这里你可以设置各种测量所应用的参数。2图3[设置]子菜单的下拉菜单（3）[测量]子菜单的下拉菜单如图4，在这里你可以进行各种测量和计算。图4[测量]子菜单的下拉菜单（4）[数据]子菜单的下拉菜单如图5，包括：重新计算，源半衰期校正，最佳测量时间选择。图5[数据]子菜单的下拉菜单（5）[开始/停止]：在每次测量开始时或测量需要停止时按下。图6（6）[质量控制图]：用于检查仪器是否处于正常工作状态，主要通过测量仪器的本底长期稳定性、工作3源和标准源效率长期稳定性对仪器性能进行检查。质量控制适用于检验仪器是否处于正常工作状态，主要是通过检验仪器的本底、标准样品源和检查源的计数稳定性进行检查。它是一种经常用于质量评价的有效而经济的方法。控制图技术的基础是假定测得的大量同类数据大致服从正态分布。控制图的基本组成如图6。控制图的纵坐标表示测量的结果值，横坐标表示测量次数。图中上，下控制线是行动的准则，两线间的区域为实际测量值的可接受范围，上下警戒线间的区域为目标值范围，如果实际测量值落在该区域，表示仪器工作处于正常状态；若超出该区域但仍落在上下控制线间的区域，则警告仪器开始性能变差，可能存在“失控的倾向”，并告诫试验人员进行初步检查，以至采取稳定质量的相应措施。在服从正态分布情况下，落在上下警戒线区域的测量值应占95％，在上下控制线之间的应占99.7％，也就是说落在上下警戒线以外的点不能大于5％。要求：在测量过程中或在测量结束后画出质量控制图。其中：sx根据贝塞尔公式进行计算，中心线是测量值的算术平均值（X），用该均值及统计标准误差（sx）即可画出相应的控制线：X±3sx警戒线：X±2sx统计平均值和标准误差计算约需不少于20个实际测量值。该控制图主要用于检查仪器的效率和本底稳定性。1.2程序功能1.2.1α工作源效率测量该测量是为了检查仪器的性能指标是否符合国家规定的该类仪器的标准。测量过程(1)在[设置]菜单中选择[仪器参数]并单击它，则弹出[仪器参数设置]对话框，如图7。图7[仪器参数设置]对话框这里你可以设置对话框中有关参数，设置的原则是：α阈的设置：从0.025-5.1V；β低阈的设置:从0.02-3.8V；β高阈的设置：从0.02-3.8V；反符合阈的设置：从0.02-3.8V。kiixNNks12)(114当你设置的数字越界时，屏幕出现“错误信息”，提示“数字输入越界”，如图8。图8当你按下确定按钮时，你就会看到光标停留在越界的数字上，如图9中的α阈6V，这时你必须更改该数字，直至输入正确数字（下面其他参数的输入相同）。这里的“主探测器高压”和“反符合探测器高压”根据实际测出的数值输入。串行口：计算机的通讯连接口的编号，可以是“1”或“2”。当你输入的数字与实际不符时，屏幕提示你“握手信号出错”，这时你可以改变串行口编号，然后按下确定按钮即可。图9（2）[仪器参数设置]完成后，屏幕提示“置阈成功”，按下[确定]。在[测量]菜单中选择[工作源效率]，弹出对话框如图10，如果你一、二路要测的均是α工作源效率，则将一、二路α前点成黑点，然后按下OK按钮，弹出[工作条件设置]对话框，如图11。（3）工作条件设置设置测量周期：1-10000；设置测量时间：1-864000s（24h*10）；设置αβ本底：在没有测量之前可以设置为0；α、β工作源及标准源效率：在没有测量之前不能设置为0，必须输入除“0”之外小于100的数；5校正系数A：在默认情况下A=1，如果用户在计算时需要进行校正，则A为实际校正系数；图10图11置信系数K：当置信度为68%时，K=1；当置信度为95%时，K=2；当置信度为99.5%时，K=3；一般情况下K=2。探测器面积和样品盘面积有三个值供选择，选择的原则是根据自己仪器主探头的闪烁体直径选。如果你的探测器直径是ф30mm，选7.07cm2；如果是ф45mm，选15.896cm2；如果是ф52mm，选21.22cm2。样品盘面积选择应与闪烁体相一致，选择时用鼠标点[▼]就可弹出你选择的三种面积。设置完成后，单击确定按钮，则完成该项设置。然后弹出[活性参数设置]对话框，如图12。其中：I（α）：α工作源源强度，单位：表面粒子数·min-1(1-99999)；I（β）：β工作源源强度，单位：表面粒子数·min-1(1-99999)；6As(α)：α标准源比活度，单位：Bqg-1(1-99)；As(β)：β标准源比活度，单位：Bqg-1(1-99)；Ms(α),Ms(β)：样品盘中所装的被测量的标准源质量；（1-5000mg）；G:几何因子，从0.1-1。图12活性参数设置设置完毕，按下确定完成设置。（4）按下[开始]按钮开始测量。测量结束后，如果要存盘，在[文件]菜单中选择[存文件]存文件；如果要打印时，在[文件]菜单中选择[打印]，打印输出结果。以后的其他测量的存文件，打印文件与此相同。（5）按公式（1）（2）计算效率和效率比：%100)()()()(IRoRss··········（1）%100)()()()(GIRoRsr··········（2）其中：)(s、)(r----工作源2π探测效率和效率比，%；)(Rs----测量的工作源的平均计数率，计数·min1；)(Ro----仪器道的平均本底计数率，计数·min1；)(I----工作源2π表面发射率，表面粒子数·min1；G--------几何因子；N------平均值的标准误差，KNN（K为测量次数）；N-------测量误差，KNNNN1；7串道比=%100道的平均计数道的平均计数。1.2.2β工作源效率测量测量过程与α工作源效率测量相同按公式（3）（4）计算效率和效率比：%100)()()()(IRoRss··········(3)%100)()()()(GIRoRsr··········(4)其中：)(s、)(r----工作源2π探测效率和效率比，%；)(Rs----测量的工作源的平均计数率，计数·min1；)(Ro----仪器道的平均本底计数率，计数·min1；)(I-----工作源2π表面发射率，表面粒子数·min1；G--------几何因子；N------平均值的标准误差；串道比=%100道的平均计数道的平均计数。1.2.3本底测量测量过程在[测量]菜单中选择[本底测量]后，弹出如图11所示的[工作条件设置]对话框，设置测量周期、测量时间等后，按下[开始]进行测量。测量结束后存盘、打印输出结果。1.2.4α工作源效率稳定性测量测量过程(1)在测量菜单中选择[α工作源效率稳定性测量]后，设置测量周期（≥10）、测量时间，其他参数前面已设置过，按下确定后，进入[活性参数设置]对话框，按下确定，再按下[开始]菜单按钮开始测量，测量结果打印输出。(2)测量结束后，单击[质量控制图]后，弹出图13所示的次级菜单，单击[一路]，则屏幕出现一路的质量控制图，按下[打印]即可打印一路质量控制图。再单击[返回]，又弹出图13。要打印二路的可按上述方法进行。在本底长期稳定性测量中，质量控制图也按上述方法进行。注意：要打印质量控制图必须在测量结束后进行，打印完成后再存盘，否则存文件后调不出质控图。(3)效率稳定性按（5）式进行8%100112NNNN··········（5）式中：1N为开始测量时两组计数的平均值，2N为结束时测量的两组计数的平均值；测量时每次计数必须1000。图131.2.5β工作源效率稳定性测量β工作源效率稳定性测量与α工作源效率稳定性测量过程相同。1.2.6α、β本底长期稳定性测量在[测量]菜单中选择[αβ本底长期稳定性]测量，在弹出的菜单中设置周期、测量时间后，开始测量。本底一般要求至少要测1000分钟。本底长期稳定性质控图的显示和打印与效率长期稳定性相同。本底测量的标准误差按（6）式进行，1)(2KNNKii··········（6）式中：i=1,2,3,.......，k；N----测量值的平均值，iN----第i次的测量值。1.2.7α标准源效率刻度这个测量是为了对仪器进行α标准源效率刻度。α标准源效率刻度的准确与否直接影响后面的各种样品测量的精确度，因此必须认真对待。在称取标准物质和铺样品时要仔细进行，称取制源样要准确，铺样要均匀，最好做几个平行源样。多测几次最后取平均值，每个样品测量时最好改变测量的角度，这样可以消除由于探测器不均匀而造成的误差。测量过程（1）[测量]菜单中选取[α标准源效率刻度]后，进入[工作条件设置]对话框，设置测量周期、测量时间及其他有关参数，按下确认进入[活性参数设置]对话框，输入α、β标准源比活度As(α)=6.98Bqg-1,As(β)=14.4Bqg-1（注意：As输入的值要根据给定的值输入）,再按下确认。称取Ms(α)=0.1Amg(A为样品盘面积)的标准物质，均匀铺在样品盘中待测量。(2)按下[开始]按钮开始测量，测量的平均计数用Rs(α)表示，单位：计数·s-1。打印结果。(3)α标准源效率εs（α）按公式（7）进行计算。9%1001000)()()()()(MsAsRoRss··········（7）式中：)(Rs---测得的标准源平均计数率，计数·1s；)(Ro---本底计数率，计数·1s；)(As---标准源比活度，1Bqg；)(Ms---装在样品盘中被测量的标准源质量，mg。1.2.8β标准源效率刻度测量的方法和过程与α标准源效率刻度相同。测量的平均计数率用Rs(β)表示，单位：计数·s-1。打印出结果。β标准源效率εs（β）按公式（8）进行计算。%1001000)()()()()(MsAsRoRss··········（8）式中：)(Rs---测得的标准源平均计数率，计数·1s；)(Ro---本底计数率，计数·1s；)(As---标准源比活度，1Bqg；)(Ms---装在样品盘中被测量的标准源质量，mg。1.2.9一般样品中总α，总β活度测量这个测量，可以对一般样品中的总α，总β活度进行测量。测量过程在[测量]菜单中，选准[一般样品测量]单击后，设置测量周期，测量时间，α本底R0(α)、β本底R0(β)，α、β标准源效率εs（α）、εs（β）及其他相关参数，按下确定，再按下[开始]按钮开始进行测量，测量结果打印输出，测得的样品中的总α，总β平均计数率用Rb(α),Rb(β)表示，单位：计数·s-1。测量结果按（9）（10）式进行计算。)()()()(sbRoRA