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1601149214904目标基线下限上限目标基线下限上限目标基线下限上限软件开发生产率(LOC/人天)24.523.320.226.526.32515.234.858.856.039.973.1软件问题解决效率（个/人月）5.35.12.97.243.14117.364.630.228.89.747.9系统测试发现软件缺陷密度（个/KLOC）4.14.62.46.82.7306.22.62.91.04.8硬件开发生产率(NOC/人天)3.73.52.34.7硬件问题解决效率（个/人月）8.17.83.312.3系统测试发现硬件缺陷密度（个/KNOC）13.314.73.326.2逻辑开发生产率(LOC/人天)37.035.326.144.4逻辑问题解决效率（个/人月）2.01.91.52.3系统测试发现逻辑缺陷密度（个/KLOC）0.30.30.20.4系统测试生产率(LOC/人天)系统测试缺陷发现效率(个/人月)硬件测试生产率(NOC/人天)逻辑测试生产率(LOC/人天)注：1、本次能力基线发布日期为XXX年X月；2、本次能力基线发布不提供系统测试生产率、系统测试发现缺陷效率、硬件测试生产率、逻辑测试生产率基线数据。产品开发能力A类B类C类1601149214904CHARTER-TR1TR1-TR2TR2-TR3TR3-TR4TR4-TR4ATR4A-TR5TR5-TR6合计平均周期（月）A类9%8%6%30%25%10%12%100%18B类5%12%18%33%20%8%4%100%6C类0%11%18%40%31%0%0%100%4产品开发周期分布1601149214904CHARTER-TR1TR1-TR2TR2-TR3TR3-TR4TR4-TR4ATR4A-TR5TR5-TR6软件开发4%8%6%40%30%6%6%系统测试1%4%5%25%40%15%10%硬件开发4%5%9%53%26%2%1%硬件测试1%4%4%30%40%15%6%逻辑开发4%5%9%53%26%2%1%逻辑测试0%0%15%80%5%0%0%软件开发3%10%22%45%13%5%2%系统测试0%5%10%30%50%5%0%软件开发20%59%11%0%0%系统测试11%38%46%0%0%产品开发工作量分布10%5%A类B类C类16011492149041601149214904语言种类折算关系（每1行相当于C语言的行数）C/C++1VC0.91JAVA0.7界面C++0.8汇编、底层驱动1.44微码5.2PB0.8DELPHI0.8SIB15SQL0.62单板硬件等效新增规模S=其中：Si——单元电路类别i中的一个非重复电路的参考规模（网络连接数）；Ct——整板难度因素修正项，主要针对应用环境恶劣程度和EMC要求；各类单元电路对应的系数请参照《硬件单元技术量化配置表》。规模折算关系软件硬件Ci――单元电路类别i的难度系数；Di――单元电路类别i的重用率；Ni――单元电路类别i中的相同单元个数对于具体某个产品而言，假定相同的工作量可以生产出相同的代码规模，以主机的C语言为标准，其它语言1行折算为标准C语言行数。iCtCi]Di1Ni[Si4）（