QC七大手法

AMBITMicrosystemsCorporationpage1•講師:xx•2002.12.10QC七大手法(上)AMBITMicrosystemsCorporationpage2前言QC改善步驟何謂統計手法QC七大手法三不主義三現主義以現實的眼光﹐觀察現場与現物﹒不制造不良品﹒不接受不良品﹒不良品不后流﹒PACDNextAMBITMicrosystemsCorporationpage3QC改善步驟示意圖1.掌握現狀2.實施3.效果确認4.標准化吃八分飽就可AMBITMicrosystemsCorporationpage4前言•1.數据:根据測量所得的數值和資料事實.•數据=事實(?)•統計是采取“根据數据与事實發言”的管理方法,在QC活動中采取概率學的統計手法.•2.QC七大手法:•把數据資料轉成圖表•“Vitalfew,trivialmany”•層別的觀念AMBITMicrosystemsCorporationpage5•層別法(Stratification)•查檢表(CheckList)•散布圖(ScatterDiagram)•特性要因圖(Cause-and-EffectDiagram)•直方圖(Histobram)•柏拉圖(ParetoChart)•管制圖(ControlChart)AMBITMicrosystemsCorporationpage61.層別法•層別法是所有手法中最基本的概念﹐亦將多种多种的資料,因應目的的需要分類成不同的“類別”,使之方便以后的分析.•注意:在匯集數据之前就應使用層別法AMBITMicrosystemsCorporationpage7空間別•一般的工厂所做的層別通常為“空間別,如•作業員﹕不同班組別•机器﹕不同机器別•原料﹑零件﹕不同供給厂家•作業條件﹕不同的溫度﹑壓力﹑濕度﹑作業場所…•產品﹕不同產品不同批別﹕不同時間生產的產品AMBITMicrosystemsCorporationpage8品保組織別部門助理IQC外包檢驗日班IQC外包檢驗夜班物料品質課IPQCFQACQA日班IPQCFQACQA夜班品質控制課資料中心客戶報怨ORTtest品質工程課品保部Backtopage5AMBITMicrosystemsCorporationpage92.查檢表•以簡單的數据用容易了解的方式作成或表格,只要記上檢查記號,并加以統計整理,作為進一步分析或核對檢查用.•注意:數据匯集完成應馬上使用,首先觀察整体數据是否代表某些事實?是否因時間的經過而產生了變化?AMBITMicrosystemsCorporationpage102.查檢表•記載項目:5W1H•標題:目的何在?WHAT•對象,項目:為什么?WHY•人員:由誰做?WHO•方法:如何做?HOW•時間:何時,頻度WHEN•制程別,檢驗站,:何處?WHEREAMBITMicrosystemsCorporationpage112.查檢表•制作要點:•他山之石,可以攻玉•簡單易懂•一目了然•TeamWorkAMBITMicrosystemsCorporationpage12•一.資料准備•教育訓練簽到表?•意見調查表?•講義是否已擺在教室內?•二.文具•紙筆供應品是否備妥?•是否備有白板及板擦?•白板是否擦干淨?•是否備有油性筆?•是否備需測驗,測驗卷准備否?2.訓練准備查檢表AMBITMicrosystemsCorporationpage13•三.服務•是否需准備交通車?•講師事前聯絡否?•學員事前聯絡否?•四.輔助設備•教室确定否?•投影儀是否已就位?•投影片是否已備好?•是否已熟知操作投影儀?•指揮棒是否需准備?2.訓練准備查檢表AMBITMicrosystemsCorporationpage14日期://無塵室稽核表白班夜班稽核項目時間干濕溫度表OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG機器保養記錄PlasmaOKNG推力機OKNG烤箱(小)OKNGD/MOKNG拉力機OKNG烤箱(大)OKNGW/BOKNG防潮箱OKNG點膠機OKNG溫度量測記錄烤箱(小)OKNG烤箱(大)OKNG冰箱OKNG(實際溫度記錄)靜電環OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG手指套OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG著晶首件檢查OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG晶片LotNo.OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG著晶外觀抽驗5PCSOKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG(不良現象記錄)著晶烘烤溫度設定OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG著晶烘烤時間設定OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG著線首件檢查OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG著線圖OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG著線外觀抽驗5PCSOKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG(不良現象記錄)點膠首件檢查OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG點膠外觀抽驗5PCSOKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG(不良現象記錄)基板烘烤溫度設定OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG基板烘烤時間設定OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG治具預熱溫度設定OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG治具預熱時間設定OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG治具加熱溫度設定OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG治具加熱時間設定OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG上蓋烘烤溫度設定OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG上蓋烘烤時間設定OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG上蓋外觀抽驗5PCSOKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG(不良現象記錄)產品放置及移轉OKNGOKNGOKNGOKNGOKNGOKNG備注:品保稽核者簽名制造擔當者簽名REMARK:1.每兩小時稽核一次或換線時稽核.2.若遇停線則開線時稽核.3.換線或開線時必須要核對首件檢查表是否確實執行.表單編號:CQ.30.04SF-03A保存期限:半年無塵室稽核表2.查檢表AMBITMicrosystemsCorporationpage15站別:無塵室REV:1項次稽核項目標准參考文件須稽核/填寫表格1溫濕度243℃,40%~70%無塵室管理辦法溫濕度紀錄表2机器保養記錄每天白班上班時填寫設備維護保養作業程序各机器保養記錄表3溫度量測記錄時機:每班量測一次溫度量測記錄規格:烤箱(小):1555℃﹐烤箱(大):1755℃,冰箱:-20?5℃4ESD触摸產品時是否佩帶靜電環,靜電桌墊是否接地ESD防護作業規范CQ.60.01S無手指套触摸產品時是否戴手指套,手指套是否定時更換製程管制作業程序無3著晶首件檢查時機:換班﹑換線﹑停線后開線﹑換機種時D/M作業規范CP.20.06S,,製造文件著晶首件檢查表檢查項目:晶片方向,晶片料號,LotNo.晶片是否破損﹑沾膠﹑變色等晶片推力800gf等,依著晶首件檢查表逐項檢查4著晶外觀抽驗5PCS頻率:每兩小時抽驗一次著晶/著線檢驗作業規范無檢驗項目:晶片方向,晶片是否破損﹑沾膠﹑變色等Ｄ/Ｍ作業規范5著晶烤箱溫度/時間設定155?5℃/1HrSOP進出烤箱時間表6著線首件檢查時機:換班﹑換線﹑停線后開線﹑換機種時著晶/著線檢驗作業規范著線首件檢查表檢查項目:核對打線圖,是否少線﹑錯線﹑短路,晶片是否破損,U15外觀檢驗作業規范WirePull8g等,依著線首件檢查表逐項檢查W/B作業規范,製造文件7著晶外觀抽驗5PCS頻率:每兩小時抽驗一次著晶/著線檢驗作業規范無檢驗項目:是否少線﹑錯線﹑短路,晶片是否破損U15外觀檢驗作業規范,W/B作業規范8點膠首件檢查時機:換班﹑換線﹑停線后開線﹑換機種時點膠首件檢查表檢查項目:Dice&Wire是否外露,是否短路﹑開路U15外觀檢驗作業規范,製造文件9點膠外觀抽驗5PCS頻率:每兩小時抽驗一次U15外觀檢驗作業規范無檢查項目:Dice&Wire是否外露,是否短路﹑開路10點膠烤箱溫度/時間設定基板預熱:155?5℃/0.5Hr,SOP進出烤箱時間表熱板預熱:130?5℃/4Min,上蓋:175?5℃/2Hr﹒11上蓋外觀抽驗5PCS高度檢測:2mm(高度規),上蓋是否破損,偏移SOP12膠類回溫銀膠:2Hr,封膠:0.5Hr膠類作業規范膠類回溫作業表13膠類是否過期膠:-20℃,一年;物料安全儲存期管制作業規范14防潮箱溫濕度防潮箱:25?5℃,40%物料安全儲存期管制作業規范無Approvedby:Review:Preparedby:IPQCCheckListBacktopage5AMBITMicrosystemsCorporationpage163.散布圖•以縱軸表示結果,以橫軸表示原因:用點表示出布形態,根据分布的形態來判斷數据之間的相互關聯.•注意:1.是否有异常點的存在•2.是否有假相關•3.是否有必要層別AMBITMicrosystemsCorporationpage17散布圖(正相關)01234567020406080100120空气污染程度肺疾病病例YAMBITMicrosystemsCorporationpage18•正相關(回轉數与出力)•負相關(油的粘度与溫度)•不相關(气壓与气溫)•弱正相關(身高与体重)•弱負相關(溫度与步伐)3.散布圖Backtopage5AMBITMicrosystemsCorporationpage194.直方圖(柱狀圖)•直方圖又稱柱狀圖﹐可將雜亂無章之資料﹐解析出其規則性﹒藉著直方圖﹐對于資料中心值或分佈狀況可一目了然﹒•注意:•1.直方圖可根据山形圖案分布形狀來觀察制品工程是否正常.•2.產品規格分布圖案可与目標,標准規格比較,有多大的差异.•3.是否必要進一步層別.AMBITMicrosystemsCorporationpage20（直方圖可達到下列目的﹕•﹒評估或查檢制程•﹒指出采取行動的必要•﹒量測矯正行動的效應﹒•﹒比較机械績效•﹒比較物料•﹒比較供應商4.直方圖AMBITMicrosystemsCorporationpage214.直方圖•直方圖製作之步驟﹕•1﹑收集數據﹐並記錄于紙上﹒•統計表上的資料很多﹐少則几十﹐多則上百﹐都要一一記錄下來﹐其總數以Ｎ表示﹒AMBITMicrosystemsCorporationpage22•２﹑定組數•總資料數與組數的關系大約如下表所示﹕•N（數據）K組數•~505~7•51~1006~10•101~2507~12•250~10~204.直方圖史特吉斯公式K=1+3.32logNAMBITMicrosystemsCorporationpage234.直方圖•3﹑找出最大值（L）及最小值（S）﹐並計算全距（R）﹒R＝L－S4﹑定組距（C）﹒R÷組數＝組距﹐通常是2.5或10的倍數AMBITMicrosystemsCorporationpage244.直方圖•5﹑定組界﹒•最小一組的下組界＝S－測量值的最小位數（一般是1或0.1）×0.5•最小一組的上組界＝最小一組的下組界＋組距•最小一組的下組界＝最小的上組界•依此類推﹒•AMBITMicrosystemsCorporationpage254.直方圖•6﹑決定組的中心點﹒•（上組界＋下組界）÷2＝組的中心點•7﹑製作次數分布表﹒•依照數值大小記入各組的組界內﹐然后計算各組出現的次數﹒AMBITMicrosystemsCorporationpage264.直方圖•8﹑製作直方圖•橫軸表示測量值的變化﹐縱軸表示次數.將各組的組界標示在橫軸上,和組的次數多少,則用柱形划在各組距上.•9﹑填上次數﹑規格﹑平均值﹑數据來源﹑日期﹒AMBITMicrosystemsCorporationpage27•（範例4.1）測量50個蛋糕的重量•N＝50•重量的規格=310±8g•測量50個數据﹐如右表﹕•L＝320•