诊断卡

用Debug卡来超频：(旧例)以前，我们在超频中出现黑屏现象时，无法确定是内存、AGP显卡还是IDE设备出了问题，只好凭自己的经验插这个拔那个，结果也许还是徒劳。现在，只需看看POST卡上显示的代码，即可确定问题出在什么地方。TL'j)K$c5B6A!a!^笔者的PC使用的主板是升技BE6-II，CPU是赛扬II533，内存是LG的PC100128M。把Debug卡插在主板上，进行下面的超频测试。先在66MHz外频下做正常开机，接通电源，电源LED指示灯全亮，证明电源没有问题，其它几个LED指示灯的状态也正常，RESET指示灯不停闪烁，数码管上显示的数字不停变化，最后停留在FF，系统自检完毕，一切正常。&O$t1i$a/t(Dq'~赛扬Ⅱ533（66.6×8＝533）具备一定的超频实力，其倍频已锁，只能超外频，将外频超至100，即100×8＝800的主频，开机无法正常启动，显示器没有反应，数码管显示自检码0D，查手册得知，0D表示侦测初始化显示界面，由此分析是显卡跟不上，尝试PCI用4分频，AGP用2分频后开机正常。由此可知，平时很不容易弄明白的事情，用Debug卡很容易就判断出来了，节省了不少时间，也学到了不少知识。4a8`.p9]$k-j;`2}继续超到110MHz，无法开机，自检码一直是FF，说明CPU根本就没有工作，把CPU电压设置在1.7V，顺利开机，运行较大程序，未出现死机现象，CPU温度没有变化。最后把外频设为133MHz外频，无论如何加电压，开机一直显示FF，说明133MHz外频已超出我们的CPU的极限频率。由于有了Debug卡的帮助，只用了十几分钟便确定了CPU的超频极限，这在以前是很难做到的。该卡对卖CPU的和很多装机商来说，很显然是一个有力的辅助工具。%l3q!Y9u8u&['\*li%x:B5~T用Debug卡来细调内存参数：在超频时，内存是影响超频性能的一个重要因素。Debug卡同样可以帮我们测试内存的超频极限。对LG的PC100，先设CL=3，从100MHz到110MHz全部通过，好，那就让内存频率在外频之上提高33MHz（需主板支持），外频仍从100MHz开始，直到115MHz，内存频率已到了147MHz，还是正常通过，但到了120MHz，即内存频率152MHz时，无法开机了，自检码显示为C1--内存侦测错误，看来147MHz为该内存的极限。同样换一条PC133，则可以达到160MHz的频率。再将CL值设为2，结果两条内存在原极限频率下均不能正常开机，显示仍为C1，将两条内存都逐渐降频，发现PC100的内存在110MHz时恢复正常，而PC133的内存在降到其标准的133MHz时才恢复正常，由此看出了我们手中内存的超频能力。G7U)n'D8o0F\(N4A总之，任何优秀的工具都只能帮助我们去解决问题，而我们则不能对其产生过分的依赖心理。毕竟到最后关头，所有的电脑故障都还是要靠自己的能力去解决的，善于利用工具，锻炼自己的DIY能力，才是我们解决电脑故障的最根本办法。诊断卡进阶:{开机键→主板控制芯片向→CPU发出RESET信号→CPU初始化}当电源供电稳定后，芯片组便撤去RESET信号，CPU马上就从FFFFOH处开始执行指令。（注：这个地址在系统BIOS的地址范围内，无论是AwardBIOS还是AMIBIOS，放在这里的只是一条跳转指令，跳到系统BIOS中真正的启动代码处。系统BIOS的启动代码首先要做的事情就是进行POST(加电自检)。POST的主要任务是检测系统中的一些关键设备是否存在和能否正常工作，如内存和显卡等。如果这个时候系统的喇叭发出的不是一声清脆的“嘀”声，那就有可能是内存条或是显示卡等出故障了]）{计算机加电后，主机电源立即产生“PowerGood”低电位信号→通过时钟产生(驱动)器输出有效的RESET信号→使CPU进入复位状态→并强制系统进入ROM-BIOS程序区。}（注：系统BIOS区的第一条指令是“jumpstar”，即跳转到硬件自检程序start。为了方便地实现BIOS的功能，BIOS运行时要用到一些RAM){因此大多数BIOS要做的第一件事就是→检测系统中的低端RAM.}（注：如果检测失败，那么大多数BIOS将无法调入RAM中，开机后无任何反应，微机黑屏。）[随机存取记忆体RandomAccessMemory，或称为RAM。RAM记忆体可以进一步分为静态RAM（SRAM）和动态记忆体（DRAM）两大类。SRAM具有快速存取的优点。而DRAM由於具有较低的单位容量价格，所以被大量的采用作为系统的主记忆][唯读记忆体（Read-OnlyMemory，ROM）是一种半导体记忆体，其特性是一旦储存资料就无法再将之改变或删除。]自检程序允许必要的附加卡上的BIOS程序首先进入它们自己的系统并初始化，但在此之前，主板上的BIOS→找到附加卡上的BIOS程序，才能在主板BIOS和操作系统之前运行。如显示卡本身就带有启动程序的BIOS芯片，该芯片内的程序负责启动显示卡，为显示其它信息作准备，并在屏幕上显示显示卡的版本及版权信息。如果上面的过程完成了，电脑开始显示ROM-BIOS的版本、版权信息以及检测出的CPU型号、主频和内存容量。在这个过程中，自检程序还要测试→DAM（内存）→控制器及ROM-BIOS芯片的字节数。（注：这些检测，如果出现错误，则为致命性错误，会导致死机或死循环如果正常。）继续检验中断控制器→、定时器→、键盘→、扩展I/O接口→、IDE接口→、软驱等设备并进行初始化。（注：检测中如果出现错误，作为一般性错误，显示错误信息；如果正常，则继续进行下一步。在这之前，机器一直判断用户是否按了“Del”键，如果按了就进入ROM-BIOS中的系统设置程序，将系统的配置情况(如软、硬盘型号)以参数的形式存入CMOSRAM中，然后重新启动。）之后，自检程序将根据CMOSRAM中的内容来识别系统的一些硬件设置，并对这些部件进行初始化，如果遇到CMOSRAM中的设置参数与系统实际的硬件不符就会导致错误或死机。如果以上的工作都完成了的话，电脑就开始从硬盘读取数据，引导操作系统。常见参数一览代码AwardBIOSAmiBIOSPhoenixBIOS或Tandy3000BIOS00.已显示系统的配置；即将控制INI19引导装入。.01处理器测试1，处理器状态核实,如果测试失败，循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始，不可屏蔽中断即将停用。CPU寄存器测试正在进行或者失败。02确定诊断的类型（正常或者制造）。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断；通过延迟开始。CMOS写入／读出正在进行或者失灵。03清除8042键盘控制器，发出TESTKBRD命令（AAH）通电延迟已完成。ROMBIOS检查部件正在进行或失灵。04使8042键盘控制器复位，核实TESTKBRD。键盘控制器软复位／通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。05如果不断重复制造测试1至5，可获得8042控制状态。已确定软复位／通电；即将启动ROM。DMA初如准备正在进行或者失灵。06使电路片作初始准备，停用视频、奇偶性、DMA电路片，以及清除DMA电路片，所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROMBIOS检查总和，以及检查键盘缓冲器是否清除。DMA初始页面寄存器读／写测试正在进行或失灵。07处理器测试2，核实CPU寄存器的工作。ROMBIOS检查总和正常，键盘缓冲器已清除，向键盘发出BAT（基本保证测试）命令。.08使CMOS计时器作初始准备，正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令，即将写入BAT命令。RAM更新检验正在进行或Я椤?09EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试，接着核实键盘命令字节。第一个64KRAM测试正在进行。0A使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码，即将写入命令字节数据。第一个64KRAM芯片或数据线失灵，移位。0B测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节，即将发出引脚23和24的封锁／解锁命令。第一个64KRAM奇／偶逻辑失灵。0C测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁／解锁；已发出NOP命令。第一个64KRAN的地址线故障。0D1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、视频通道测试，如果失败，则鸣喇叭。已处理NOP命令；接着测试CMOS停开寄存器。第一个64KRAM的奇偶性失灵0E测试CMOS停机字节。CMOS停开寄存器读／写测试；将计算CMOS检查总和。初始化输入／输出端口地址。0F测试扩展的CMOS。已计算CMOS检查总和写入诊断字节；CMOS开始初始准备。.10测试DMA通道0。CMOS已作初始准备，CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。第一个64KRAM第0位故障。11测试DMA通道1。CMOS状态寄存器已作初始准备，即将停用DMA和中断控制器。第一个64DKRAM第1位故障。12测试DMA页面寄存器。停用DMA控制器1以及中断控制器1和2；即将视频显示器并使端口B作初始准备。第一个64DKRAM第2位故障。13测试8741键盘控制器接口。视频显示器已停用，端口B已作初始准备；即将开始电路片初始化／存储器自动检测。第一个64DKRAM第3位故障。14测试存储器更新触发电路。电路片初始化／存储器处自动检测结束；8254计时器测试即将开始。第一个64DKRAM第4位故障。15测试开头64K的系统存储器。第2通道计时器测试了一半；8254第2通道计时器即将完成测试。第一个64DKRAM第5位故障。16建立8259所用的中断矢量表。第2通道计时器测试结束；8254第1通道计时器即将完成测试。第一个64DKRAM第6位故障。17调准视频输入／输出工作，若装有视频BIOS则启用。第1通道计时器测试结束；8254第0通道计时器即将完成测试。第一个64DKRAM第7位故障。18测试视频存储器，如果安装选用的视频BIOS通过，由可绕过。第0通道计时器测试结束；即将开始更新存储器。第一个64DKRAM第8位故障。19测试第1通道的中断控制器（8259）屏蔽位。已开始更新存储器，接着将完成存储器的更新。第一个64DKRAM第9位故障。1A测试第2通道的中断控制器（8259）屏蔽位。正在触发存储器更新线路，即将检查15微秒通／断时间。第一个64DKRAM第10位故障。1B测试CMOS电池电平。完成存储器更新时间30微秒测试；即将开始基本的64K存储器测试。第一个64DKRAM第11位故障。1C测试CMOS检查总和。.第一个64DKRAM第12位故障。1D调定CMOS配置。.第一个64DKRAM第13位故障。1E测定系统存储器的大小，并且把它和CMOS值比较。.第一个64DKRAM第14位故障。1F测试64K存储器至最高640K。.第一个64DKRAM第15位故障。20测量固定的8259中断位。开始基本的64K存储器测试；即将测试地址线。从属DMA寄存器测试正在进行或失灵。21维持不可屏蔽中断（NMI）位（奇偶性或输入／输出通道的检查）。通过地址线测试；即将触发奇偶性。主DMA寄存器测试正在进行或失灵。22测试8259的中断功能。结束触发奇偶性；将开始串行数据读／写测试。主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。23测试保护方式8086虚拟方式和8086页面方式。基本的64K串行数据读／写测试正常；即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。从属中断屏蔽存器测试正在进行或失灵。24测定1MB以上的扩展存储器。矢量初始化之前的任何调节完成，即将开始中断矢量的初始准备。设置ES段地址寄存器注册表到内存高端。25测试除头一个64K之后的所有存储器。完成中断矢量初始准备；将为旋转式断续开始读出8042的输入／输出端口。装入中断矢量正在进行或失灵。26测试保护方式的例外情况。读出8042的输入／输出端口；即将为旋转式断续开始使全局数据作初始准备。开启A20地址线；使之参入寻址。27确定超高速缓冲存储器的控