射线检测计算公式总结

1、最短波长公式：(能量公式）2、连续谱中最大强度对应的波长与最短波长之间近似有下述关系:3、连续谱射线的总强度I：4、连续谱X射线的转换效率η;5、放射性原子核的衰变公式：6、半衰期公式：(重要公式）放射性原子核数目因衰变减少至原来数目一半时所需的时间7：单色窄束射线的衰减规律：8、线衰减系数μ：9、半值层：10、半值层计算公式：穿过物体后的射线强度为入射强度一半时的穿透厚度(重要公式）11.影响半值层T1/2的因素:12、宽束多色射线的强度衰减规律：13、主因对比度公式：Ⅰ=Ⅰs+Ⅰp=Ⅰp（1+n)散射比n=Is/Ip14、胶片对比度公式：minminhcheVV4.12minmin5.1IM2ZiVKIiZVKiteNN0693.021T21/0)21(TTNNTeII033ZK693.02ln21T21)21(0TTII21)21(0TTII3321693.02lnZKTTenII)1(0nTII121/02TTNNTII0lnnII)21(021TTn1-无缺陷缺陷IIT'1'11DGtgIgEIgE15、射线照相对比度公式：ΔD=-0.434GμΔT/（1+n）16、黑度D：照射光强度与穿过底片的透射光强之比的常用对数值17、射线照相几何不清晰度：Ug=df×L2／L1=df×L2／（F-L2)18、X射线曝光量：E=itγ射线曝光量：E=At19、平方反比定律：从一点源发出的辐射，强度I与距离F的平方成反比I1/I2=（F2/F1）220、X射线照相的曝光因子：Ψ=it/F2=i1t1/F11=i2t2/F22=……=intn/Fn2γ射线照相的曝光因子：Ψ=At/F2=A1t1/F12=A2t2/F22=……=Antn/Fn219、K值与横向裂纹检出角θ的关系：K=1/Cosθθ=cos-1(1/K)20、一次透照长度L3:L3=2L1tanθ21、直缝单壁单影:底片的有效评定长度：Leff=L3+ΔL纵缝作双壁单投影：底片的有效评定长度应为：leff=ΔL+L3′+ΔL22、环缝单壁外照法Ｎ＝360218000α=θ-ηθ=cos-1[1120()KTDK]η=sin-1(DDL0012sin)K=1.1θ=cos-1[001.121.0DDT]当D０＞＞T时，θ≈cos－１Ｋ－１K=1.1θ=24.62L3=Ｄ０／Ｎ；Ｌ＇3＝．Ｄｉ／ＮΔL≈2T·tanθＬeff＝ΔL／２＋Ｌ３＋ΔL／２α:与ＡＢ／２对应的圆心角；θ:最大失真角或横裂检出角；η--有效半辐射角；Ｋ-透照厚度比；Ｔ-工件厚度；Ｄ０---容器外直径Di－容器内直径LLD0lgDLL10023、环缝单壁内照法1）F＜R的偏心法N=1800α=η－θ：θ=cos-1112()KTDKiη=sin－1（DDLii21sin）当D0＞＞T时，θ=cos-1K-1L3=NDiL3′=ND0ΔL≈2T·tgθ（ΔL/2=T·tgθ）Leff=L3′+ΔL2）FR的偏心法透检N=1800α=θ-ηθ=cos-11120()KTDKη=sin-1(sin200DFD)当D0T时,θ=cos-1K-1L3′=ND0L3=NDiLeff=L3＇24双壁单影法100%透检环缝时的最少曝光次数N一次透照长度L3N=1800α=θ+ηθ=cos-11120()KTDKη=sin-1（sin200DFD）当DoT时,θ=cos-1K-1L3=ND0Leff=L325利用曝光曲线求非钢材的曝光量射线等效系数（φm表示）是指在一定管电压下，达到相同射线吸收效果（或者说获得相同底片黑度）的基准材料厚度To与被检材料厚度Tm之比，即：φm=TTm026、椭圆成像法偏心距L0=（g＋q）L1/L2=(F-L2)(p+q)/L2=[焦距-(外径+焊缝余高)]×2焊缝宽度/(外径+焊缝余高)27、距离防护：对点源来说，在某点的射线强度与该点到源的距离平方成反比D1R12=D2R22