Chroma-6000-ATE--说明

WORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02Chroma6000ATE基本架構待Output測1物Output2ACINPUTOutput≦12SwitcherAnalyzer1ExtendedMeasurementUnitModel602SwitcherAnalyzer12SwitcherAnalyzer2VinSourceOvp/VupSourcePrinter個人電腦IEEE-488圖2.1Chroma6000ATS系統方塊圖PowerAnalyzerModel6630/6632WORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02GPIB卡硬體設定及安裝123456789down10offonSwitch1,2,3forIRQ7Switch4,5forI/Oaddress2E1HSwitch9selectsPCIIAmodeBaseI/OAddressSwitchSettingsforGPIB-PCIIAModeIRQ2IRQ3IRQ4IRQ7IRQ6IRQ5InterruptJumperSettingsforIRQ7IRQ2IRQ7IRQ6IRQ5DMAChannelJumperSettingsforDMA1DRQ1DACK1DRQ2DACK3DRQ3DACK2up123456789down10offonSwitch1,2,3forIRQ7Switch4,5,6,7forI/Oaddress2B8HSwitch9selectsPCIImodeBaseI/OAddressSwitchSettingsforGPIB-PCIIModeupGPIB卡有兩種版本1.舊版本(ISA接口GPIB卡)左圖為ISAGPIB卡上的撥碼設定ISAGPIB卡：基本組態：0400IRQ:57DMAChannel:11I/ORead/Writeaddress:02E102E1安裝GPIB9512驅動程士2.新版本(PCI接口GPIB卡)直接安裝NIGPIB卡驅動程士WORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02PowerPro主菜單頁面WORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02H/WConfig硬體GPIB地址設定頁面設定C6000系統下的各硬體的GPIB地址，否則PowerPro無法控制硬體做測試WORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02Management測試程式管理頁面Inport:從外部導入測試程式Export:把測試程式導出到其他地方ReleaseDate:程式編好後，必須注冊才能在Go/NoGo中使用WORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02DefaultData測試檔案初始化數據程式編制前的共用資料及各測試項目的參數資料的初始值InputMeasurement(EMU,Vin,PA):指定在Input/OutputTest測試項中用何種儀器做為量測Vin、Iin的量測工具WORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02DefaultData頁面2,3DefineName:設定電源輸出端的名稱Von:設定電子負載開始拉載之電壓BITSABCD:為四組光電隔離TTL信號，系SA用以控制其外接設備的開關的信號，初始狀態為0000Ifs:選定的負載電流滿偏刻度范圍Model650(1Amp/50Amps)Model620(1Amp/20Amps)Mode(I/R):設定負載是定電流模式/定電阻模式SlewRate:單位時間負載的抖動率WORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02DefaultData頁面4Vfs:選定的負載電流滿偏刻度范圍Model620/65010Volts/100VoltsModel620HV20Volts/200VoltsMeas@(UUT/LD):設定電壓量測點的位置是待測物(UUT)端/負載（LD)端VdcFilter:量測Vdc時的低通濾波器（30Hz/300Hz)WORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02DefaultData頁面5NoiseFilter:量測鏈波值或均方根的低通濾波器（1、10、25、75、100、300、1000、5000、10000、20000、1M、5M、10M、20M）VppMax:設定雜訊峰峰值VnMax:設定均方根值規格dV(+)Max,dV(-)Max:在負載效應測試時，當負載大小變化致使輸出電壓與中心電壓偏差值之規格。WORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02C6000系統測試流程首先，系統控制器(電腦)設定可程式電源供應器的輸出電壓值至適當值，此一電壓送到ON/OFFCONTROLLER(係用來控制輸入電源是否接通到待測物的一個裝置，可在ExtendedMeasurementUnit內部，亦可在獨立的一個箱體內，當所有的SwitcherAnalyzer都已達正常的工作狀態並送出ACSyncSignalOn的信號給ON/OFFCONTROLLER時，ON/OFFCONTROLLER就會將輸入電源送出給待測物。當電源加到待測物之後，其各組輸出開始爬升，當各組輸出電壓達到設定的Von值時，接在該組輸出的SwitcherAnalyzer開始拉載。當設定的延遲時間(DelayTime)結束時，ExtendedMeasurementUnit或PowerAnalyzer或SwitcherAnalyzer開始連續量取資料，並持續一段時間(Meas.Time)後將所有測試結果上傳給電腦以供顯示或列印。WORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02開機瞬間負載不能控制的問題Von點設定過低現象：輸出電壓仍低，電子負載已開始拉電流結果：TurnonTime較正常情況為長，OVERSHOOT電壓較低。（電子負載必須降低阻抗以拉額定電流可能觸發短路或OCP保護電路，而無法開機）Von點設定過高現象：輸出電壓已達額定值，電子負載還沒開始拉電流結果：TurnonTime較正常情況為短，OVERSHOOT電壓過高。（甚至當OVERSHOOT高於OVP點時，會立即觸發OVP保護動作，而無法開機）OvershootingOutputdisabledbyOVPcircuittUUTOutputVoltageActiveLoadSinkCurrentOutputdisabledbyOVPcircuittUUTOutputVoltageActiveLoadSinkCurrentWORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02TestProgram測試程式編輯窗口ConvertDosProgram:把編好的PowerPro程式轉換成Dos版本的測試程式GeneralInformation:與主菜單下的DefaultData功能相同FunctionData:顯示當前編輯的測試項目的詳細內容及參數WORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02編輯測試程式應注意事項在編輯測試程式時，其第一個程序項必須是“SetupFunction”或“Turnon&SequenceTest”,即使隻執行一項功能的測試，也同樣要先執行二者之一。因為隻有這兩個功能才可以設定待測物的輸入電源的輸入端口及電源形態（AC/DC)。UUTOFFTime設定時機1.保護之後2.開機3.關機注：AutoRecoveryPower及PS-ON保護之後可不設定UUTOFFTime之值。UUTOFFTime在“Turnon&SequenceTest”中是指測量之前關斷的時間，在其他項目的UUTOFFTime是指測量之後關斷的時間。DelayTime時間設定長短要領視前項是否有重大之變化，若無可以設短一點的時間。Filter(Vdc)隻要測設定300Hz以下的A/D產生的漣波，若不測量此值可將此值設定為30HzSlewRate最大為2.5A/μs在“INPUT/OUTPUTTest”測試項中，Meas.Time最好要3sec左右。WORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02C6000測試程式項目分類一般測試：1.Input/Output2.Dynamic3.SyncDynamic12.Holdonadjust14.Static25.SyncDynamic2Regulation測試：4.LoadREG.5.CrossREG.6.LineREG.7.CombineREG.20.TotalREG.Timing測試：8.Turnon9.Holdup15.ExtraTiming保護測試：10.OLP11.OPP18.Shortcircuit19.OVP/UVP特殊測試：13.EXTWave17.EXTMeas.21.Cycledropout22.Vinramp23.Finramp24.ACNoiseC.T.WORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02INPUT/OUTPUTTEST(1)輸出入特性測試用以量測待測物在靜態負載條件下其輸入端及輸出端的特性。量測的資料：輸入端：Iinrms、Iinpk+、Iinpk-、Pin、Eff、Pf、Vin輸出端：Vdc、Vpp、Vn、Pdc、IdcWORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02INPUT/OUTPUTTEST(2)Iinrms:待測物的輸入電流均方根值Pin:待測物的輸入實功率Pdc:待測物總輸出功率Eff:效率（用％表示）Eff=(Pdc/Pin)X100%Pf:待測物輸入端功率因素Pf=Pin/(Vin(rms)XIin(rms))DelayTime=當前項並沒有重大變化時，時間可以設稍短一點，約0.5sec即可Meas.Time=必須要設3sec左右TT01Vac(t)xIac(t)dtTruePower=ΣPdc=nVdc(i)xIdc(i)WORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02DynamicTest(1)動態特性測試用以量測待測物在動態負載條件下的輸出特性WORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02DynamicTest(2)PERIOD-1與PERIOD-2系用SA內的振盪器產生的，其誤差為100ppm,所以任何兩部SA間的偏差有可能到200ppm,因此對多組輸出的電源供應器若需要負載同步變化時，建議使用同步動態特性測試（SyncDynamicTest)WORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02DynamicTest(3)ItI/R-1I/R-1I/R-2I/R-2RISERATEFALLRATEVtVs-1Vs-1Vs-1Vs-2Vs-2VppWORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02SyncDynamicTest同步動態特性測試本測試之“PERIOD-1”及“PERIOD-2”係由第一組之SA產生並供給其他各組之SA以達到各組負載皆能同步的狀態。第一組SA背板25PinD-Type接頭的Pin1要接到所有其他SA背板同一接點的Pin14，以達到各部SwitcherAnalyzer的負載同步變化的效果。WORKINGONBETTERSOLUTIONS2008.1.23ver.E-02SyncDynamic2同步動態測試2本項測試和同步動態測試過程相