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－1－印行年月91年10月本標準非經本局同意不得翻印中國國家標準CNS總號類號電磁相容—測試與量測技術—第1部：概觀經濟部標準檢驗局印行公布日期修訂公布日期91年9月23日年月日14676-1C6424-1ICS33.100.01;33.100.20Electromagneticcompatibility(EMC)-Testingandmeasurementtechniques-Part1:Overview目錄1.適用範圍和目的………………………………………………………………………22.引用標準………………………………………………………………………………23.概述………………………………………………………………………………44.用語釋義………………………………………………………………………………45.本系列標準之結構……………………………………………………46.測試的選擇………………………………………………………………………5表1現場環境免疫力測試的適用性…………………………………………………9表2待測設備埠免疫力測試的適用性…………………………………………………10(共10頁)－2－CNS14676-1,C6424-11.適用範圍和目的本標準包涵在電磁環境中電機、電子設備(儀器和系統)的測試和量測技術。本標準的目的是對標準委員會或其他單位，給予電機、電子設備的製造商和使用者在本系列EMC標準測試和量測技術適用性的協助，並提供相關測試選擇的一般建議。2.引用標準CNS14299：電磁相容性詞彙【IEC60050(161)】CNS14587-1：電磁相容性(EMC)—第１部:總則—第１章:術語與基本定義之應用與說明【IEC61000-1-1】CNS14588-5：電磁相容性（EMC）－第２部：環境－第５章：電磁環境之分類【IEC61000-2-5】CNS_(IEC61000-3-2)：1995,Electromagneticcompatibility(EMC)-Part3:Limits–Section2:Limitsforharmoniccurrentemissions(equipmentinputcurrent≦16Aperphase)CNS_(IEC61000-3-3)：1994,Electromagneticcompatibility(EMC)-Part3:Limits–Section3:Limitationsofvoltagefluctuationsandflickerinlow-voltagesupplysystemsforequipmentwithratedcurrent≦16A)CNS_(IEC61000-3-4)：1998,Electromagneticcompatibility(EMC)-Part3-4:Limits–Limitationsofemissionofharmoniccurrentsinlow-voltagepowersupplysystemsforequipmentwithratedcurrentgreaterthan16A)CNS_(IEC61000-3-5)：1994,Electromagneticcompatibility(EMC)-Part3:Limits–Section5:Limitationsofvoltagefluctuationsandflickerinlow-voltagepowersupplysystemsforequipmentwithratedcurrentgreaterthan16A)CNS14676-2：電磁相容—測試與量測技巧—第2部：靜電放電免疫力測試【IEC61000-4-2】CNS14676-3：電磁相容—測試與量測技巧—第3部:輻射、射頻、電磁場免疫力測試【IEC61000-4-3】CNS14676-4：電磁相容—測試與量測技巧—第4部:電性快速暫態/叢訊的免疫力測試【IEC61000-4-4】CNS14676-5：電磁相容—測試與量測技巧—第5部:突波免疫力測試－3－CNS14676-1,C6424-1【IEC61000-4-5】CNS14676-6：電磁相容—測試與量測技巧—第6部:射頻場感應的傳導擾動免疫力【IEC61000-4-6】CNS_(IEC61000-4-7)：1991,Electromagneticcompatibility(EMC)-Part4:Testingandmeasurementtechniques–Section7:Generalguideonharmonicsandinterharmonicsmeasurementsandinstrumentation,forpowersupplysystemsandequipmentconnectedthereto.CNS_(IEC61000-4-8)：1993,Electromagneticcompatibility(EMC)-Part4:Testingandmeasurementtechniques–Section8:Powerfrequencymagneticfieldimmunitytest.BasicEMCPublication.CNS_(IEC61000-4-9)：1993,Electromagneticcompatibility(EMC)-Part4:Testingandmeasurementtechniques–Section9:Pulsemagneticfieldimmunitytest.BasicEMCPublication.CNS_(IEC61000-4-10)：1993,Electromagneticcompatibility(EMC)-Part4:Testingandmeasurementtechniques–Section10:Dampedoscillatoryfieldimmunitytest.BasicEMCPublication.CNS_(IEC61000-4-11)：1994,Electromagneticcompatibility(EMC)-Part4:Testingandmeasurementtechniques–Section11:Voltagedips,shortinterruptionsandvoltagevariationsimmunitytest.CNS_(IEC61000-4-12)：1995,Electromagneticcompatibility(EMC)-Part4:Testingandmeasurementtechniques–Section12:Oscillatorywavesimmunitytest.BasicEMCPublication.CNS_(IEC61000-4-14)：1999,Electromagneticcompatibility(EMC)-Part4-14:Testingandmeasurementtechniques–Voltagefluctuationimmunitytest.BasicEMCPublicationCNS_(IEC61000-4-15)：1997,Electromagneticcompatibility(EMC)-Part4:Testingandmeasurementtechniques–Section15:Flickermeter–Functionalanddesignspecifications(RevisionofIEC60868)CNS_(IEC61000-4-16)：1998,Electromagneticcompatibility(EMC)-Part4-16:Testingandmeasurementtechniques–Testforimmunitytoconnectedcommonmodedisturbancesinthefrequencyrange0Hzto150kHzimmunitytest.BasicEMCPublication.CNS_(IEC61000-4-17)：1999,Electromagneticcompatibility(EMC)-Part4-17:Testingandmeasurementtechniques–Rippleond.c.inputpowerportimmunitytest.BasicEMCPublication.－4－CNS14676-1,C6424-1CNS_(IEC61000-4-24)：1997,Electromagneticcompatibility(EMC)-Part4:Testingandmeasurementtechniques–Section24:TestmethodsforprotectivedevicesforHEMPconducteddisturbance.BasicEMCPublication.CNS_(IEC61000-4-28)：1999,Electromagneticcompatibility(EMC)-Part4-28:Testingandmeasurementtechniques–Variationofpowerfrequency,immunitytest.3.概述在以往電器裝置和系統，對電磁擾動(即傳導和輻射電磁擾動和靜電放電)一般是不敏感的，但目前使用的電子元件和設備，對這些擾動是非常敏感，特別是對高頻和暫態現象。由於電子元件和設備的大量使用，已增加了功能誤動作、損壞等等的危險性與重要性，這些是可以由電路和電磁擾動所引起。標準委員會(或設備的使用者和製造商)對於本系列標準中免疫力測試之適當選擇和適用到設備上之測試位準仍有責任。但是為了加強協調和標準化的工作，標準委員會或使用者和製造商必須考慮標準中所提出的建議。4.用語釋義CNS14299所規定之名詞定義適用本系列標準。5.本系列標準的結構本系列之標準結構，一般遵循CNS_(IECGuide107)所訂的指導原則。對系列的基本測試標準其結構如下：(1)適用範圍(2)引用標準(3)概述(4)用語釋義(5)測試位準/限制值(6)測試設備(7)測試配置(8)測試程序－5－CNS14676-1,C6424-1(9)測試結果和測試報告本系列中，有些標準不是基本測試標準(例如CNS_(IEC61000-4-7))，這些標準和量測(儀器和程序)有關，並不需要遵循上述結構。6.測試的選擇設備的測試可能由於許多原因，例如：•在研發中為了設計測試；•型式測試；•驗證測試；•量產測試。設備對所有的測試皆必須執行，以提供所需的可靠度，但基於經濟的理由，測試數量可以限制在合理的最小數量。對驗證或量產測試的測試數量，比型式測試少，這是可以接受的。對應用在特殊設備的測試選擇是依據幾個因素而定，例如：•影響設備的擾動型式；•環境的條件；•所需的可靠度和動作；•經濟的限制；•設備的特性。關於所要考慮的各種設備和環境條件，要說明有關測試選擇的正確法則是困難的，此選擇主要是相關標準委員會的責任(基於其經驗)，在特別的情況下，可經由製造商和使用者之間協調後訂定。在所有的情況下，對電磁環境(CNS_(IEC61000-2)系列，特別是CNS14588-5)的了解和對CNS14587-1中解釋統計觀點的了解是有幫助的。如果存在有可適用的一般標準、產品族系的標準或指定產品標準，這些標準的優先性如下(參照CNS_(IECGuide107))：•指定產品標準；•產品族系的標準；•一般準標。若認為這些標準並不適於到特殊型式的設備，則下列本系列標準之每一部的簡短－6－CNS14676-1,C6424-1解釋可能是有幫助的。表1和表2中亦提供一個摘要說明。y依照CNS14676-2測試(靜電放電免疫力測試)一般而言，靜電放電適用於所有設備，其係使用於可能發生靜電放電的環境，直接和非直接放電皆必須考慮。對於是限制使用在ESD控制環境和非電子產品上的設備，則可以不受此限制。y依照CNS14676-3