电子蚀刻探针引脚检测系统

SAEHAN世界一流的高新技术企业2009November.SaeHanMicroTechCo.,Ltd.AllRightsReserved.PrintedinKOREAwww.probepin.com电子蚀刻探针引脚检测系统JinjeopFactory:739-4,Palya-ri,Jinjeop-eup,Namyangju-si,Gyeonggi-do,Korea(Zipcode:472-868)TEL:[phone]FAX:[phone]SeongnamFactory:SKAPT.Factory#214/#08(09),223-28,Sandaewon1-dong,Jungwon-gu,Seongnam-si,Gyeonggi-do,Korea(Zipcode:462-705)TEL:[phone]FAX:[phone]E-MAIL:[e-mail].,Ltd.www.probepin.com0203大家好，我是(株)SAEHANMICROTECH的代表理事金学骏。韩国半导体产业在短暂的20余年发展历程中，取得了令人刮目相看的辉煌与成绩，并且不断地为国家经济的发展贡献着自己的力量，成为引领韩国经济腾飞的发展动力。(株)SAEHANMICROTECH作为一个纳米科技(NanoTech)高新企业，主要生产半导体检测的核心零部件探针(ProbePin)，以及检测超小型精密零件的引脚检测系统(VisionInspectionSystem)。我们正努力为半导体产业的发展贡献更大的力量。本公司持续不断地进行技术研发，采用“选择和集中”的企业发展战略，并通过与超一流企业进行战略合作，从而取得更多的先进技术，积极推进市场营销网络(MarketingNetwork)的开发。企业的另一个战略就是追求生产技术的规模化，生产具有高附加价值的新型产品。以此，(株)SAEHANMICROTECH满足广大顾客的各项需求，从而成为真正意义上的纳米技术(NanoTechnology)的领导者。尊敬的各位顾客，希望您能够一直关注(株)SAEHANMICROTECH，并不断给我们发展的动力。我谨代表全体员工再一次向大家表达最诚挚的谢意，祝各位身体健康、万事如意！（株）SAEHANMICROTECH代表理事金學駿公司介绍公司概况CEO致辞本公司作为一个高新技术企业（HightechVenture），自从1999年10月创立以来，成功研发并生产出存储用半导体检测设备的核心部件——探针（ProbePin）、引脚检测系统、微型机器人用超小型弹簧。这些产品原来完全依赖于从国外进口，如今不但完成了国产化，而且每年都实现销售额的持续增加。需要指出的是，从研发成功的第一年——1999年开始，就占据了韩国国内市场的50%，而现在我们产品的市场占有率已经高达80%。从2002年8月份开始，本公司的产品成功打入了此项技术的发源地美国，并将产品销往日本、台湾等需求量最大的地区。此外，本公司积极参与产学研协会，以便在研发与工序改善方面得到有效的指导。为了提高产品的品质管理，引进专业人才，自主研发出了引脚检测系统，达到了世界最高层次的标准要求。如今，我们正努力将产品推广成为韩国的代表性品牌。同时，积极参加由产业资源部、科学技术处主办的国家公共研究课题，主要的研究开发业绩包括成功开发出超小型、超精密产品专业检修检测设备等。本公司将尽最大的努力满足顾客在产品质量方面的要求，使自己拥有一流的技术竞争力，以实现企业的持续、稳定发展。公司沿革1999.102000.062002.062003.102003.122004.042005.022005.032005.052006.032006.032007.042008.012008.092009.10成立(株)SAEHANMICROTECH注册成为风险企业取得ISO9001认证(株)SAEHANMICROTECH正式迁往榛接工厂取得ISO14001认证金学骏代表理事获得“2003年优秀中小企业家奖”(株)SAEHANMICROTECH成立企业附属研究所，并获得认证通过技术创新型中小企业(INNO-BIZ)认证设立美国当地法人“PropinUSA在台湾成立合资法人“YOTOKU(株)SAEHANMICROTECH成立城南分社通过优秀制造技术研究中心(ATC)认证通过零部件材料专业企业认证在韩国国内注册专利专利名称:薄板型加工物的引脚检测方法(株)SAEHANMICROTECH城南分社扩建、迁移完了股份公司SAEHANMICROTECH创立10周年公司使命与发展愿景使命通过开发、利用加工技术，为国家尖端产业的发展做出贡献，从而促进人类文明的发展、社会福祉的提高。发展愿景在2012年，实现(株)SAEHANMICROTECH的公开募股，并引进职工持股制度。愿景宣言我们将以激昂澎湃的热情与坚持不懈的努力，促进尖端技术的发展，培养各类专业人才，努力满足顾客的各项需要，实现企业的可持续发展。在2012年，将通过透明的经营方式，实现企业的公开募股,并通过引进职工持股制度，让全体员工成为企业的主人！SaehanMicroTechco.,Ltd.www.probepin.com0405432154325金属线蚀刻探针的样品金属线蚀刻探针(WireEtchingProbe)悬臂型号（A型号）（B型号）LocationLocation金属线蚀刻探针的样品样品（A型号）W:钨R:铼N:镍P:镀金锥体(Taper)长度(1.75mm)探针直径(150mm)探针长度(64mm)WRNP-150-175-640X-Position锥体(Taper)直径锥体(Taper)长度探针长度探针直径①②③④⑤项目名称规格误差允许范围检测备注WRNP150-175-640175㎛~215㎛67㎛1.75㎛64㎛150㎛※如果需要了解更为详细的信息，请发送电子邮件至[e-mail]进行咨询。-±2㎛±100㎛±1㎛±5㎛针尖的直径就是指从探针针头到30㎛位置的距离从30㎛的位置到400㎛位置之间的距离，就是所测得的锥体直径锥体(Taper)长度探针镍长度探针镍直径探针(Probe)概要探针卡(probecard)是介于电子检测设备与半导体晶片之间的接口。为了控制检测设备与晶片电路间的状况，在完成芯片包装之前，探针卡能够确认、检测晶片中的电路。探针卡由PCB与一定形状的接触部件所组成。一般而言，接触部件是由金属制造而成的，但是也可采用其它原材料。根据接触部件的形状与外观的不同，大体可将探针分成悬臂式(cantilevertype)、立式(verticaltype)、MEMS式三种类型。悬臂式型号(CantileverType)SHMT悬臂探针能够适用于各种金属（wire）检测，提供相关的解决方案。每年SHMT悬臂技术都得到了极大的发展，如今已经达到了非常高的技术高度。立式型号(VerticalType)立式探针的外形类似于眼镜蛇抬起头时的头部，极大地改善了准度(alignment)、平面度(planarity)与可靠性。MEMS型号(MEMSType)MEMS型号的探针是SHMT研发领域的电气铸造部门(electroformingsection)在2006年精制而成的，电气铸造部门为我们展现了采用尖端技术制造而成的先进镀金成果。SaehanMicroTechco.,Ltd.www.probepin.com0607绝缘探针(InsulationTubelessProbe)悬臂式型号整体涂层探针探针长度涂层长度探针直径涂层厚度涂层膜探针涂层膜探针探针长度涂层长度探针直径未涂层的长度涂层厚度局部涂层探针涂层探针样品材料涂层厚度探针直径涂层色彩W,ReW5㎛~30㎛Ø80㎛~Ø200㎛黑色,红色,浅褐色,绿色※如果需要了解更为详细的信息，请发送电子邮件至[e-mail]进行咨询。机械研磨探针的样品优点•新材料（突出的电气、机械特性）•减少对护垫的损坏、粒子少用途•存储器、非存储半导体(non-memories)、逻辑电路、汽车、影像设备、微处理器等机械研磨探针(MechanicallyGrindingProbe)悬臂式型号※如果需要了解更为详细的信息，请发送电子邮件至[e-mail]进行咨询。制作过程研磨检测Paliney7,NeyoroG,BeCuØ70㎛~Ø300㎛,25㎜~89㎜1.0~4.0㎜,2.3°~6.0°(±0.2°)7㎛↑(±2㎛),FlatTip材料直径与长度锥体(Taper)长度与角度尖直径与形状SaehanMicroTechco.,Ltd.www.probepin.com0809立式探针(VerticalProbe)立式型号立式探针的样品P7,BeCu2.0,mil,2.5mil,3.0mil,3.15mil,4.0mil30°&60°(±1°)针尖、平尖、球型有头型号、无头型号2~3㎛±1㎛(派瑞林,聚酰胺)立式探针的样品P7:Paliney7,BeCu:BerylliumCopper,1mil:25.4㎛※如果需要了解更为详细的信息，请发送电子邮件至[e-mail]进行咨询。可使用的材料直径尖部角度与形状尖部形状头部形状涂层厚度头部尖部有头类型无头类型针尖平尖优点•寿命长•卓越的电气特性•粒子少用途•存储器内存、逻辑电路、汽车、影像设备、BGA、LCD控制装置头部弯曲尖部弯曲型探针(BentProbe)悬臂式型号弯曲型探针的样品单一弯曲型探针弯曲角度:PASS标准直径:PASS弯曲长度:PASS尖部直径:PASS弯曲角度:104.8标准直径:79.2弯曲长度:30.9尖部直径:PASS双重弯曲型探针弯曲型探针的检测双重弯曲型探针样品※如果需要了解更为详细的信息，请发送电子邮件至[e-mail]进行咨询。样品制作范围标准误差材料尖部直径10㎛~40㎛±2㎛弯曲角度90˚~150˚±1˚弯曲长度350㎛~1200㎛±15㎛尖部形状扁平（flat）半径探针-全体项目SaehanMicroTechco.,Ltd.www.probepin.com1011刀片式探针(BladeProbe)刀片式型号制作过程刀片式探针的样品•材料:BeCu,BeNi,STS304,PhosphorBronze,etc原材料蚀刻剥离检测PR涂层露出显像刀片式探针镀金绝缘涂层BeCuBeNiSTS304H210~250HTOver370XHMSOver330TMOver400--材料热处理(Hv)硬度孔长度最小幅度最小圆形±5㎛±10㎛20㎛30㎛±5㎛±10㎛25㎛35㎛±5㎛±10㎛25㎛40㎛±10㎛±15㎛30㎛60㎛±10㎛±20㎛50㎛120㎛±10㎛±20㎛50㎛180㎛±10㎛±20㎛70㎛200㎛±5㎛±10㎛20㎛20㎛±5㎛±10㎛20㎛30㎛±5㎛±10㎛25㎛35㎛±15㎛±20㎛70㎛200㎛厚度(㎛)20253050100150200152025200优点•多样化的外观设计•探针拥有精巧的节距•迅速的供货速度•粒子小用途•存储器、非内存半导体、显示器金属丝探针(WireProbe)立式型号金属丝探针的样品钨,Paliney7,BerylliumCopper40㎛,50㎛,70㎛,90㎛,100㎛扁平针、圆形针扁平针、圆形针、锥形针5~10㎛可使用的材料直径头部形状检测点的形状涂层厚度头部WAu-070-30(HF-TR)检测针尖的形状:圆形有头尖部的形状:扁平针长度:30mm针直径:0.07mm表面:镀金材料:钨检测点扁平圆形扁平圆形锥形金属丝探针的样品用途•FPC,FPCB,TCP,COFOpen/Short检测头部NICL1NICL2D1D2ICT扁平检测点SaehanMicroTechco.,Ltd.ww