ICS21.140J22备案号:32124—2011中华人民共和国机械行业标准JB/T7369—2011代替JB/T7369—1994机械密封端面平面度检验方法Flatnesstestingmethodofmechanicalseal2011-05-18发布2011-08-01实施中华人民共和国工业和信息化部发布JB/T7369—2011I目次前言......................................................................................................................................................................II1范围................................................................................................................................................................12术语和定义....................................................................................................................................................12.1干涉图.........................................................................................................................................................12.2干涉光谱带(光带).................................................................................................................................13检验装置........................................................................................................................................................14检验程序........................................................................................................................................................15平面度测定值的判读....................................................................................................................................1附录A(资料性附录)常见干涉光谱带图示例..............................................................................................3附录B(资料性附录)推荐采用的检验装置结构示意简图...........................................................................5JB/T7369—2011II前言本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准代替JB/T7369—1994《机械密封端面平面度检验方法》,与JB/T7369—1994相比主要技术变化如下:——修改了附录A。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国机械密封标准化技术委员会(SAC/TC491)归口。本标准起草单位:合肥通用机械研究院。本标准主要起草人:李小瓯、郑国运、沈宗沼、李香。本标准所代替标准的历次版本发布情况为:——JB/T7369—1994。JB/T7369—20111机械密封端面平面度检验方法1范围本标准规定了机械密封端面平面度的术语和定义、检验装置、检验程序、平面度测定值的判读等内容。本标准适用于采用单色光源的光学法检验机械密封环端面平面度。2术语和定义下列术语和定义适用于本文件。2.1干涉图interferencefigure光波干涉产生的干涉条纹(亮带或暗带)所组成的图形。2.2干涉光谱带(光带)interferencespectralband干涉图上的暗带。3检验装置3.1推荐使用的检验装置结构见附录B。3.2光源应为单色光源,推荐使用钠光源。3.3检验用光学平晶应为一级精度(其平面度应在0.02μm~0.10μm之间),光学平晶的直径应大于被检密封环端面的外径。3.4装置放置在干燥、洁净、避免振动干扰的工作间内。3.5装置要有一定的保护元件,避免光束直接照射到观察者的皮肤或眼睛。3.6如果采用反光镜观察,应保证反光镜没有变形和失真。4检验程序4.1检验时,环境温度应控制在(20±5)℃。4.2打开平面度检测仪的电源开关,预热至灯管充分发光。4.3清除被检密封环密封端面和光学平晶表面上的纤维、颗粒、油渍、水汽等污物,且使密封环密封端面和光学平晶表面不受损伤,并且保持这些表面在检验过程中不被再次污染。4.4将被检密封环轻轻放置在光学平晶上(或将平晶轻轻放置在密封环上),使密封环端面和光学平晶紧密接触,出现干涉带,判读光谱带数时不应使其受到附加外力的作用。4.5通过镜面观察密封端面的干涉图形(或透过光学平晶观察密封端面上的干涉图形),判读干涉光谱带。5平面度测定值的判读5.1平面度测定值的判读按附录A的规定。每组图由左向右第2、3个为待测平面与平晶成楔形位干涉图,其余4个为待测平面与平晶平行接触位干涉图。光带条数为线段AB穿过暗带的条数。对于附录A未含的图形,判读者应在正确理解应用光干涉原理的基础上,参照附录A的图例进行判读。5.2球形凸面和球形凹面确定方法如下:JB/T7369—20112a)观察干涉图由上向下移动眼睛,若干涉光谱带向圆心移动,则为球形凹面;若干涉光谱带向外径移动,则为球形凸面。b)用手指轻轻地在平晶或密封环外边上加压,若干涉光谱带围着手指弯曲,则为球形凸面;若干涉光谱带向手指外弯曲,则为球形凹面。5.3平面度的测定值应按式(1)计算:Δ=0.5Nλ………………………………………………(1)式中:Δ——平面度的测定值,单位为微米(μm);N——干涉光谱带数;λ——单色光波波长,单位为微米(μm)。比如,目前常用的单色光源-钠光光波波长为λ=0.6μm,一条光带时,Δ为0.3μm,即平面度为0.3μm。JB/T7369—20113附录A(资料性附录)常见干涉光谱带图示例A.1一条光带图示如图A.1所示。图A.1A.2两条光带图示如图A.2所示。图A.2JB/T7369—20114A.3三条光带图示如图A.3所示。图A.3A.4多条光带(>三条光带)图示如图A.4所示。图A.4JB/T7369—20115附录B(资料性附录)推荐采用的检验装置结构示意简图推荐采用的检验装置结构示意简图如图B.1所示。1——箱体;2——活动门;3——密封环;4——光学平晶;5——带孔活动板;6——玻璃镜;7——毛玻璃;8——钠光灯管;9——稳压元件;10——隔光板。图B.1JB/T7369—2011中华人民共和国机械行业标准机械密封端面平面度检验方法JB/T7369—2011*机械工业出版社出版发行北京市百万庄大街22号邮政编码:100037*210mm×297mm·0.5印张·15千字2011年12月第1版第1次印刷定价:12.00元*书号:15111·10254网址:http://编辑部电话:(010)88379778直销中心电话:(010)88379693封面无防伪标均为盗版版权专有侵权必究