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J42JB/T54285－1999量具量仪产品质量分等测微头（内部使用）1999-06-09发布2000-01-01实施国家机械工业局发布前言本标准是对JB/T54285—94《测微头产品质量分等》的修订。本标准与JB/T54285—94的技术内容一致，仅按有关规定重新进行了编辑。本标准自实施之日起代替JB/T54285—94。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会提出并归口。本标准负责起草单位：江西工具厂。本标准主要起草人：陈庚泉、李维国、黄振寰。本标准于1990年首次发布。JB/T54285－199911范围本标准规定了测微头的合格品、一等品和优等品的各项质量指标。本标准适用于成批生产的测微头质量等级的评定。2引用标准下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准昀新版本的可能性。JB/T10033—1999测微头JB/T54247.1—1996量具量仪产品质量分等通则JB/T54247.2—1996量具量仪产品质量分等抽样验收细则3合格品合格品必须达到JB/T10033规定的各项要求，按照JB/T54247.1的规定，其不合格项分为：3.1A类不合格（致命缺陷类）测微头在量程范围内的移动偏差应不大于表1的规定。表1mm分度值测量范围0.010.0010~15；0~250.0030.0020~500.0050.0043.2B类不合格（重缺陷类）3.2.1测微头上不得有影响使用性能的外部缺陷。3.2.2测微螺杆的移动应平稳，无卡滞现象。3.2.3根据需要，测微头的回程误差应不大于0.001mm。3.2.4测微头的轴向和径向间隙应不大于0.01mm。3.2.5对带计数器的测微头，当旋转测微螺杆时，计数器应按顺序进位，其传动零部件转动应平稳，无阻滞现象，各字码偏离中心位置应不大于0.3mm。3.2.6固定套管的纵刻线、游标刻线与微分筒上的刻线宽度差应不大于0.03mm。3.2.7测微头测量面平面度公差、测量面相对测微螺杆轴线的垂直度公差见表2。国家机械工业局1999-06-09批准中华人民共和国机械行业标准量具量仪产品质量分等测微头（内部使用）JB/T54285－1999代替JB/T54285—942000-01-01实施JB/T54285－19992表2分度值mm平面度公差μm垂直度公差μm0.0120.0010.613.2.8测微头安装部位的尺寸为φ10h6或φ12h6。3.2.9对零位时，Ⅱ型、Ⅳ型测微头游标刻线的“零”刻线和尾刻线与微分筒上相应刻线的重合度应不大于表3的规定。表3mm“零”刻线的重合度尾刻线的重合度0.0050.053.2.10具有测力装置的测微头测量面与球面接触时的测力应为6~10N，其测力变化应不大于2N。3.2.11测微头测量面表面粗糙度Ra的昀大允许值为0.04μm。3.2.12测微头测量面应镶硬质合金；测微螺杆的硬度应不低于664HV（≈58HRC）。注：根据需要，测量面允许不镶硬质合金，硬度应不低于766HV（≈62HRC）。3.2.13测微头上应标志：a）制造厂厂名或注册商标；b）分度值；d）产品序号。3.2.14包装盒上应标志：a）制造厂厂名或注册商标；b）产品名称；c）测量范围。3.2.15产品合格证上应标志：a）产品标准的标准编号；b）产品序号；c）出厂日期。3.3C类不合格（轻缺陷类）3.3.1外观：应符合JB/T54247.1—1996附录B中第B2章的规定。3.3.2微分筒和微米游标锥面的端面至固定套管毫米刻线和半毫米刻线的距离允许压线不大于0.05mm，离线不大于0.10mm。3.3.3Ⅰ型、Ⅱ型、Ⅲ型、Ⅴ型测微头，微分筒锥面棱边至固定套管纵刻线表面的距离不大于0.4mm；Ⅳ型测微头微米游标与微分筒刻线面连接处轴向间隙不大于0.1mm，两刻线面高度差不大于0.03mm。JB/T54285－199934一等品一等品除达到合格品的各项要求外，还必须达到如下要求。4.1主要精度性能指标测量面相对测微螺杆轴线的垂直度公差按合格品压缩20%。4.2主要零件的主要项目测微螺杆的螺距误差不应大于表4的规定。表4测量范围mm螺距误差μm0~15；0~2520~5034.3清洁度测微头清洁度不应大于表5的规定。表5mg型式Ⅰ、ⅡⅢ、Ⅳ、Ⅴ清洁度8144.4按行业规定条件进行寿命试验时，一等品应达到表6的规定。表6试验类别寿命次数同一批抽样合格率判断依据螺旋副寿命试验15万次移动偏差不应超差棘轮寿命试验150万次≥67%测力应不超差且测力变化应小于3N注：试验方法与外径千分尺寿命试验方法相同。5优等品除达到一等品的全部要求、并经行业多次测试和用户反映公认性能优越外，尚须达到下列指标。5.1主要零件的主要项目测微螺杆的螺距误差不应大于表7的规定。表7测量范围mm螺距误差μm0~15；0~251.50~5025.2清洁度JB/T54285－19994测微头清洁度不应大于表8的规定。表8mg型式Ⅰ、ⅡⅢ、Ⅳ、Ⅴ清洁度7135.3按行业规定条件进行寿命试验时，优等品应达到表9的规定。表9试验类别寿命次数同一批抽样合格率判断依据螺旋副寿命试验15万次移动偏差不应超差棘轮寿命试验150万次100%测力应不超差且测力变化应小于3N6等级评定测微头产品的等级评定按照JB/T54247.2的规定进行。JB/T54285－1999中华人民共和国机械行业标准量具量仪产品质量分等测微头（内部使用）JB/T54285－1999*机械科学研究院出版发行机械科学研究院印刷（北京首体南路2号邮编100044）*开本880×12301/16印张1/2字数10,0001999年11月第一版1999年11月第一次印刷印数1－500定价10.00元编号99－614机械工业标准服务网：