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出口低压熔断器检验规程Rulesfortheinspectionoflow-voltagefusesforexportSN/T1030—2001前 言 本标准根据GB/T1.1—1993《标准化工作导则第1单元：标准的起草与表述规则第1部分：标准编写的基本规定》及SN/T0002—1999《出口机电商品检验规程编写的基本规定》的要求进行编写。 本标准在技术上参照了GB13539.1—1992、GB13539.2—1992和GB13539.4—1992中相关内容，并对抽样、检验和检验结果判定作出规定。 本标准由中华人民共和国国家认证认可监督管理委员会提出并归口。 本标准由中华人民共和国浙江出入境检验检疫局负责起草。 本标准主要起草人：余金钧、周敏。 本标准系首次发布的检验检疫行业标准。1范围 本标准规定了出口低压熔断器的抽样、检验及检验结果的判定。 本标准适用于交流电压不超过1200V或直流电压不超过1500V，分断能力不低于6kA、封闭式限流熔断体的出口熔断器的检验。 本标准不适用于出口微型熔断器的检验。2引用标准 下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。 GB／T 2828—1987逐批检查计数抽样程序及抽样表(适用于连续批的检查) GB13539.1—1992低压熔断器基本要求(neqIEC60269-1：1986) GB13539.2—1992低压熔断器专职人员使用的熔断器的补充要求(neqIEC60269-2：1986) GB13539.4—1992低压熔断器半导体器件保护用熔断体的补充要求(neqIEC60269-4:1986)3定义 本标准采用下列定义。3.1尺码 熔断器系列中规定的一组熔断器尺寸，每一尺码包括给定的额定电流范围，该范围中熔断器的尺寸保持不变。3.2同一熔断体组 给定尺码内的一组熔断体，其特性仅稍有差别，对于某一给定的试验，只要试验其中一个或少数几个特定的熔断体就可代表整个一组熔断体。3.3检验批 为实施检验而汇集的同一熔断体组的熔断体、相对应的熔断器支持件、以及两者组合的熔断器，在相同条件下生产的单位产品，称为检验批，简称批。3.4代表性规格 从批中为实施检验而抽取的代表批质量的产品规格。4抽样4.1抽样条件4.1.1生产厂应提交有效型式试验报告、定期试验报告及产品出厂检验合格报告。4.1.2一批中的每个规格的最大允许数量为35000只。4.2抽样方案4.2.1交收检验采用GB/T2828正常检查一次抽样方案。4.2.2代表性规格的确定4.2.2.1熔断体代表性规格的确定 将检验批中最大额定电流的熔断体和最小额定电流的熔断体以及最大额定电流与最小额定电流之间的任一额定电流熔断体作为代表性规格。4.2.2.2熔断器支持件代表性规格的确定 将与熔断体代表性规格相匹配的熔断器支持件作为代表性规格。4.2.3样本数根据每个代表性规格产品总数，按特殊检查水平S-4确定。4.2.4合格质量水平AQL值的确定 A类不合格：不允许 B类不合格：AQL=1.5 C类不合格：AQL=4.04.3抽样方法 样本从代表性规格中随机抽取。开箱数按表1确定。表1开箱数4.4检查严格度按GB/T2828转移规则执行。5检验5.1检验分类 检验分为交收检验、型式试验和定期试验。5.2检验项目5.2.1交收检验 包装检验项目及不合格分类见表2；熔断器支持件检验项目及不合格分类见表3；熔断体检验项目及不合格分类见表4。表2包装检验项目及不合格分类代表性规格总箱数开箱数2～25226～1503151～12005检验项目质量要求检验方法不合格分类包装包装箱应清洁，不应受潮、破损视检C唛头、标志印制文字应正确C箱内产品型号规格与箱外标志应一致，不应错、漏装B外观产品陶瓷件或其他绝缘材料件表面不应有气泡、裂纹、麻点C金属件电镀层不应有裂纹、锈斑、镀层脱落C紧固件不得松动和脱落C标志产品标志应标明型号、额定电压、额定电流、电流种类及额定频率、尺码(仅供专职人员使用的熔断器支持件)，商标应符合有关规定。支持件包含一个可移动的熔断器底座和一个可移动的载熔件时，两者应分别标志B产品标志应清晰，不应标在可移去的部件上C表4熔断体检验项目及不合格分类5.2.2型式试验5.2.2.1有下列情况之一者，应进行型式试验： a)首次出口的新产品； b)产品的设计、结构、材料或工艺的变更可能影响产品性能时。5.2.2.2型式试验按GB13539.1、GB13539.2和GB13539.4执行。5.2.3定期试验5.2.3.1定期试验每6年进行一次。5.2.3.2定期试验按GB13539.1、GB13539.2和GB13539.4执行。5.3检验结果的判定5.3.1分别对A类、B类和C类作出合格与否的判定。当A类、B类和C类均合格时，判该代表性规格为合格，否则为不合格。5.3.2所有代表性规格均合格，则判该批合格，否则为不合格。6不合格的处置6.1对于合格批，应将发现的不合格品替换为合格品。6.2对于不合格批，经返工整理后，允许重新提交检验一次。7其他 在正常仓储条件下，检验有效期为12个月。产品标志内容应正确A插拔试验熔断器与支持件接触良好、无松动适用量器具B外形及安装尺寸按产品图纸规定适用量器具C绝缘性能按GB13539.1—1992中7.2规定按GB13539.1—1992中8.2执行A注：插拔试验仅用于对刀型触头熔断器支持件。检验项目质量要求检验方法不合格分类外观产品陶瓷表面不应有气泡、裂纹、麻点视检C金属件电镀层不应有裂纹、锈斑、脱落C紧固件不得松动和脱落C熔断体内填料无漏出现象B标志产品标志应标明型号、额定电压、额定电流、分断范围和使用类别、电流种类和额定频率(频率为45Hz～62Hz可不标)、尺码(仅供专职人员使用的熔断体)、额定分断能力(仅供专职人员使用的熔断体和半导体器件保护用熔断体)。对难于标志齐全的小型熔断体，型号、额定电压和额定电流必须标志；商标应符合有关规定。对500A及以上半导体器件保护用熔断体还应标明在20℃±5℃时的电阻值B产品标志应清晰、永久C产品标志内容应正确A熔断体特性试验按GB13539.1—1992中7.4规定，在规定电流和时间内不熔断测量熔断体电阻值，抽取电阻值最大和最小的熔断体各3只，按GB13539.1—1992中8.4.3.1a、8.4.3.1b执行；“aM”熔断体按GB13539.2—1992中7.1a、7.1b执行B按GB13539.1—1992中7.4规定，在规定电流和时间内熔断A半导体器件保护用熔断体电阻值应按有关技术文件规定测量熔断体电阻值B外形尺寸按产品图纸规定适用量器具C