JJF (浙) 1134-2017 微米千分尺校准规范

浙江省地方计量技术规范JJF（浙）1134—2017微米千分尺校准规范CalibrationSpecificationforMicrometerWithμmReading2017-03-30发布2017-05-01实施浙江省质量技术监督局发布(浙)JJF(浙)1134-2017微米千分尺校准规范CalibrationSpecificationforMicrometeWithμmReading归口单位：浙江省质量技术监督局主要起草单位：台州市计量技术研究院浙江省计量科学研究院参加起草单位：浙江省方正校准有限公司本规范委托台州市计量技术研究院负责解释JJF(浙)1134-2017主要起草人：李岳求（台州市计量技术研究院）徐欣（台州市计量技术研究院黄元津（台州市计量技术研究院）陈康（台州市计量技术研究院）陆益（浙江省计量科学研究院）黄伟城（浙江省计量科学研究院）参加起草人：汪正亚（浙江省方正校准有限公司）JJF(浙)1134-2017I目录引言………………………………………………………………………………（Ⅲ）1范围……………………………………………………………………………(1)2引用文献………………………………………………………………………(1)3概述………………………………………………………………………(1)4计量特性……………………………………………………………………（2)4.1测微螺杆的轴向窜动和径向摆动…………………………………………（2）4.2测砧测量面与测微螺杆测量面的相对偏移量……………………………（2）4.3微米游标筒与微分筒标尺标记面连接处的轴向间隙……………………（2）4.4微米游标筒与固定套筒圆周方向的相对位移……………………………（2）4.5标尺标记宽度及宽度差……………………………………………………（3)4.6测力…………………………………………………………………………(3)4.7微分筒锥面的端面棱边至固定套筒标尺标记面的距离………………(3)4.8微米游标筒与微分筒两标尺标记面之差…………………………………(3)4.9微分筒锥面的端面与固定套筒毫米标尺标记的相对位置……………(3)4.10零值误差…………………………………………………………………（3)4.11测量面的表面粗糙度……………………………………………………（3)4.12测量面的平面度……………………………………………………………(3)4.13两测量面的平行度………………………………………………………（3)4.14示值误差…………………………………………………………………（4)4.15校对用量杆尺寸和尺寸变动量…………………………………………（4)5校准条件…………………………………………………………………(4)5.1环境条件…………………………………………………………………(4)5.2校准项目和校准设备…………………………………………(5)6校准方法…………………………………………………………………(5)6.1测微螺杆的轴向窜动和径向摆动…………………………………………(5)6.2测砧测量面与测微螺杆测量面的相对偏移量……………………………(7)6.3微米游标筒与微分筒标尺标记面连接处的轴向间隙……………………（7）6.4微米游标筒与固定套筒圆周方向的相对位移量…………………………（7）II6.5标尺标记宽度及宽度差……………………………………………………(8)6.6测力………………………………………………………………………(8)6.7微分筒锥面的端面至固定套筒标尺标记面的距离………………………(8)6.8微米游标筒与微分筒两标尺标记面之差…………………………………(8)6.9微分筒锥面的端面与固定套筒毫米标尺标记的相对位置………………(8)6.10零值误差…………………………………………………………(9)6.11测量面的表面粗糙度……………………………………………………(9)6.12测量面的平面度…………………………………………………………(9)6.13两测量面的平行度……………………………………………………(9)6.14示值误差………………………………………………………………(9)6.15校对用量杆尺寸和尺寸变动量…………………………………………（10)7校准结果表达……………………………………………………………(10)8复校时间间隔………………………………………………………………(10)附录A微米千分尺示值误差测量结果不确定度评定……………………(11)附录B校准证书或校准报告内容……………………………………………(15)JJF(浙)1134-2017III引言JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001-2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》、JB/T10032-1999《微米千分尺》共同构成支撑本校准规范制定工作的基础性系列规范。本技术规范首次发布。JJF(浙)1134-20171微米千分尺校准规范1范围本规范适用于分度值为0.001mm、0.002mm，测量上限至100mm的微米千分尺的校准。2引用文件JJF1071-2010国家计量校准规范编写规则JJF1001-2011通用计量术语及定义JJF1059.1-2012测量不确定度评定与表示JB/T10032-1999微米千分尺凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用本规范。3概述微米千分尺是应用螺旋副原理，将回转运动变为直线运动的计量器具，主要用于测量各种工件的外尺寸。它由尺架、固定测砧、测微螺杆、测力装置、锁紧装置和读数装置等组成。其外形结构如图1、图2、图3所示。图1Ⅰ型微米千分尺1—尺架2—固定测砧3—测微螺杆4—锁紧装置5—固定套筒6—微分筒7—测力装置8—护板装置图2Ⅱ型微米千分尺1—尺架2—固定测砧3—测微螺杆4—锁紧装置5—固定套筒6—微米游标筒7—微分筒8—测力装置9—护板装置2图3Ⅲ型微米千分尺1—尺架2—固定测砧3—测微螺杆4—锁紧装置5—固定套筒6—微米游标筒7—微分筒8—测力装置9—护板装置4计量特性4.1测微螺杆的轴向窜动和径向摆动测微螺杆的轴向窜动和径向摆动应不大于0.01mm。4.2测砧测量面与测微螺杆测量面的相对偏移量测砧与测微螺杆测量面的偏移量应不超过表1的规定。表1测砧与测微螺杆测量面的偏移量测量范围上限/mm偏移量/mm150.05250.05500.08750.131000.154.3微米游标筒与微分筒刻线面连接处的轴向间隙Ⅱ型和Ⅲ型微米千分尺的微米游标筒与微分筒标尺标记面连接处的轴向间隙应不大于0.1mm。4.4微米游标筒与固定套筒圆周方向的相对位移量Ⅱ型和Ⅲ型微米千分尺的微米游标筒与固定套筒圆周方向的相对位移在测微头上的位移量应不大于0.001mm。4.5标尺标记宽度及宽度差JJF(浙)1134-20173Ⅰ型微米千分尺固定套筒上的纵标尺标记与游标标尺标记，Ⅱ型和Ⅲ型微米千分尺微米游标筒上的标尺标记及微分筒上的标尺标记宽度应为（0.15～0.20）mm,标尺标记的宽度差不大于0.03mm。4.6测力微米千分尺的平测微头与量具测力仪球面接触时的测量力为(6～10)N。4.7微分筒锥面的端面棱边至固定套筒标尺标记面的距离Ⅰ型微米千分尺固定套筒上纵标尺标记表面至微分筒锥面棱边的距离应不大于0.4mm。4.8微米游标筒与微分筒两标尺标记面之差Ⅱ型和Ⅲ型微米千分尺的微米游标筒与微分筒两标尺标记面之差应不大于0.03mm。4.9微分筒锥面的端面与固定套筒毫米标尺标记的相对位置当微分筒零标尺标记与固定套筒纵向标尺标记对准时，微分筒锥面的端面与固定套筒毫米标尺标记右边缘应相切，若不相切，压线不大于0.05mm,离线不大于0.10mm。4.10零值误差微米千分尺对零位时，微米游标筒标尺标记上的零标尺标记和尾标尺标记与微分筒上相应标尺标记的重合度应不大于表2的规定。表2零值误差零标尺标记的重合度/mm尾标尺标记的重合度/mm0.0050.054.11测量面的表面粗糙度微米千分尺和校对用量杆测量面的表面粗糙度Ra值为0.05μm。4.12测量面的平面度微米千分尺测量面的平面度不大于0.6μm。4.13两测量面的平行度微米千分尺锁紧装置紧固和松开时，微米千分尺两测量面的平行度不超过表3的规定。44.14示值误差微米千分尺示值误差不超过表3的规定。表3示值误差测量范围/mm两测量面的平行度/μm最大允许误差/μm0～151±20～2525～501.550～752±375～1004.15校对用量杆尺寸和尺寸变动量微米千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量不超过表4规定。表4校对用量杆尺寸和尺寸变动量校对量杆标称尺寸/mm尺寸的最大允许误差/μm变动量/μm15±112550±1.5751.5注：校准工作不判断合格与否，上述计量特性要求仅供参考。5校准条件5.1环境条件微米千分尺和校对用的量杆的室内温度和室内平衡温度的时间应在表5范围内。表5室内温度和室内平衡温度测量范围/mm室内温度对20℃的允许偏差/℃平衡温度的时间/h微米千分尺校对用的量杆（0～100）±5±325.2校准项目和校准器及配套设备JJF(浙)1134-20175微米千分尺的校准项目和标准器及配套设备见表6。表6校准项目和标准器及配套设备序号校准项目标准器及配套设备1测微螺杆的轴向窜动和径向摆动1级检验平板、2级杠杆千分表测力计MPE：±2.0％2测砧测量面与测微螺杆测量面的相对偏移量1级检验平板、百分表MPEV：20μm测力计MPE：±2.0％3微米游标筒与微分筒标尺标记面连接处的轴向间隙塞尺MPE：±0.012mm4微米游标筒与固定套筒圆周方向的相对位移量--5标尺标记宽度及宽度差工具显微镜MPE：±（1+L/100）μm读数显微镜MPEV：0.01mm6测力量具测力仪MPE：±2.0％7微分筒锥面的端面棱边至固定套筒标尺标记面的距离工具显微镜MPE：±（1+L/100）μm读数显微镜MPEV：0.01mm、塞尺MPE：±0.012mm8微米游标筒与微分筒两标尺标记面之差塞尺MPE：±0.012mm9微分筒锥面的端面与固定套筒毫米标尺标记的相对位置--10零值误差工具显微镜MPE：±（1+L/100）μm读数显微镜MPEV：0.01mm11测量面的表面粗糙度表面粗糙度比较样块MPE：（＋12～－17）%12测量面的平面度2级平面平晶13两测量面的平行度平行平晶MPEV：（0.6～1.0）μm14示值误差3等或1级量块15校对用量杆尺寸和尺寸变动量光学计、测长机、3等或1级量块6校准方法首先检查外观,确定没有影响计量特性因素后再进行测量。6.1测微螺杆的轴向窜动和径向摆动一般情况下用手感检查测微螺杆的轴向窜动和径向摆动。有异议时，可按下列方法测量。6.1.1测微螺杆的轴向窜动，用杠杆千分表测量。测量时，杠杆千分表与测微螺杆测量面接触，沿测微螺杆轴向方向分别往返加力（3～5）N,如图4所示。杠杆6千分表示值的变化值，即为轴向窜动量。6.1.2测微螺杆的径向摆动，用杠杆千分表测量。测量时，将测微螺杆伸出尺架10mm后，使杠杆千分表测头接触测微螺杆的端部，再沿杠杆千分表测量方向加力（2～3）N，然后在相反方向加同样大小的力，此时杠杆千分表示值的变化值即为径向摆动量。径向摆动的测量应在测微螺杆相互垂直的两个方向进行。此过程如图5所示。图4轴向加力示意图图5径向加力示意图JJF(浙)1134-201776.2测砧测量面与测微螺杆测量面的相对偏移量（0～25）mm的微米千分尺可目力观察微米千分尺测砧测量面与测微螺杆测量面的相对偏移量，测量上限大于25mm的微米千分尺可借助校对用量杆进行测量。如有异议时，可按下列方法进行测量。测量上限大于25mm的微米千分尺可用专用检具测量相对偏移量。在检验平板上用杠杆百分表或百分表测量，测量时借助夹具放置在检验平板上，如图6