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ETZTF中华人民共和国国家计量技术规范~\A呆飞阑如棋革EZW、JJF1411-2013测量内尺寸千分尺校准规范CalibrationSpecificationforMicrometersofMeasuringInsideDimension2013-05-13发布2013-11-13实施国家质量监督检验检夜总局发布,JJF1411-2013测量内尺寸千分尺校准规范CalibrationSpecificationforMicrometersofMeasuringInsideDimension(/.~..:ee:e:ee..e:e、2JJF1411-2013~j代替阳则-2叫飞1I:-.:.:ee:ee:eeeee.tJ归口单位z全国几何量工程参量计量技术委员会主要起草单位:黑龙江省计量检定测试院吉林省计量科学研究院参加起草单位:青海量具刃具有限责任公司福建省计量科学研究院本规范委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释,JJF1411-2013本规范主要起草人:梁玉红〈黑龙江省计量检定测试院)窦艳红(吉林省计量科学研究院)张黎平〈黑龙江省计量检定测试院)陈洪侠(黑龙江省计量检定测试院)参加起草人:黄晓宾(青海量具刃具有限责任公司)王朝阳(福建省计量科学研究院),JJF1411-2013目录引言……...................................….........……….........……..................….(n)1范围……………………………………………………………………………………(υ2引用文件………………………………………………………………………………(1)3概述……………………………………………………………………………………〈υ4计量特性…….......…..…........…………………………………·…..................(3)4.1测力…………………………………………………………………………………(3)4.2刻线宽度及宽度差…........….........……………………………...................(3)4.3微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离………………..............….(3)4.4微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置……………..................(4)4.5测量面的表面粗糙度…........……………………………………….........…….(川4.6量爪测量面的圆弧半径及素线平行度……………………………..................(4)4.7示值误差........….................................……........………….................(4)4.8校对环规直径尺寸…………………………………………………………………(日4.9细分误差…........……..................….........………………….........……….(5)4.10数值漂移……..................................................……….........……….(5)5校准条件.，....….........…………......…….........…..............…….......…......(5)5.1环境条件……….......….......………….........…..........…………........…….(5)5.2校准项目和标准器……........…………..................………….........……….(5)6校准方法………….................……….........…·….......………….......……….(的6.1测力…………………………………………………………………………………(们6.2刻线宽度及宽度差........…….........….........…..................……………….(的6.3微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离…........…………………….(的6.4微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置........…·…………………(7)6.5测量面的表面粗糙度…........…....................................………………….(7)6.6量爪测量面的圆孤半径及素线平行度........……...............………………….(7)6.7示值误差..............................…........……….................………………..(7)6.8校对环规直径尺寸.............................…….................…..………………(们6.9细分误差........….................................…..................….......…………(8)6.10数值漂移…………………………………………………………………………〈们7校准结果表达.........................................……………........………………..(8)8复校时间间隔........………·…….................…..................………………….(8)附录A三点内径千分尺示值误差测量结果不确定度评定…........……………….(9)附录B内测千分尺示值误差测量结果不确定度评定………........….........…….(13)附录C数显三点内径千分尺示值误差测量结果不确定度评定.................…….(17)附录D数显内测千分尺示值误差测量结果不确定度评定…….................…….(21)附录E校准证书内容及内页格式…........…....................................……….(25)I,JJF1411-2013引JJF1071-2010((国家计量校准规范编写规则》、JJF1001-2011((通用计量术语及定义》、JJF1059.1-2012测量不确定度评定与表示》共同构成支撑校准规范修订工作的基础性系列规范。JJF1411一2013((测量内尺寸千分尺校准规范))(以下简称本规范勺等同采用GB/T6314-2004((三爪内径千分尺))~且I:..J.Q♀06-1999((内测千分尺》、修改采用GB/T22093-2008((电子数且，咧秤芬邸，本规有容精副f1091-2002((测量内尺寸千分尺校准规范丸'一一-一与JJF1091-2QØ1曹相....-三点内俨绕到200mmo一一-对JB/T1000评定。E一一原规flJJF1091-2JJG23-1988JJG378-1985,JJF1411-2013测量内尺寸千分尺校准规范1范围本规范适用于分度值为0.01mm测量范围上限至150mm的内测千分尺，分度值为0.001mm、0.002mm、0.005mm测量范围上限至300mm的三点内径千分尺，分辨力为0.001mm测量范围上限至200mm的电子数显内测千分尺以及分辨力为0.001mm测量范围上限至300mm的电子数显三点内径千分尺的校准。分辨力为0.001mm---O.01mm测量范围上限至200mm的计数器内测千分尺和分辨力为0.001mm---O.01mm测量范围上限至300mm的计数器三点内径千分尺，可以参考本规范进行校准。2引用文件本规范引用下列文件:JJG894-1995标准环规GB/T6314-2004三爪内径千分尺GB/T22093-2008电子数显内径千分尺JB/T10006-1999内测千分尺DIN863-1千分尺(DIN863-1micrometer)凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用本规范。3概述内测千分尺是通过螺旋副将旋转运动转变为两个弧形测量面沿与旋转轴线平行的直线运动，并对两测量面分割的距离读数的内尺寸测量器具。它的外形结构见图1。电子数显内测千分尺是通过螺旋副将旋转运动转变为两个弧形测量面沿与旋转轴线平行的直线运动，利用角度传感器、电子和数字显示技术，计算并显示两测量面分割的距离的内尺寸测量器具。它的外形结构见图2。三点内径千分尺是通过螺旋副和转向机构将旋转运动转变为三个弧形测量面沿与旋转轴线垂直的直线运动，并对三个弧形测量面构成的圆柱直径读数的内尺寸测量器具。它的外形结构见图3。电子数显三点内径千分尺是通过螺旋副和转向机构将旋转运动转变为三个孤形测量面沿与旋转轴线垂直的直线运动，利用角度传感器、电子和数字显示技术，计算并显示三个孤形测量面构成的圆柱直径的内尺寸测量器具。它的外形结构见图401,JJF1411-2013图2电子数显内测千分尺外形结构1一测量面2一锁紧装置3一电子数显装置4一固定套管5一微分筒6→测力装置图3三点内径千分尺外形结构1一量J]\;2一-测量面3一主体或底座4一深度接长杆5一固定套管6一微分筒7一测力装置2,JJF1411-2013456图4电子数显三点内径千分尺外形结构1量爪2一测量面3一主体或底座4一深度接长杆5一电子数显装置6一测力装置4计量特性4.1测力4.1.1内测千分尺及电子数显内测千分尺的测力及测力变化见表L表1内测千分尺及电子数显内测千分尺的测力及测力变化测量范围/mm测力/N二三5~503~750~2005~10测力变化/N224.1.2三点内径千分尺及电子数显三点内径千分尺的测力及测力变化见表2。表2三点内径千分尺及电子数显三点内径干分尺的翻力及测力变化测量范围/mm测力/N测力变化/N注6~126~15512~10010~3010100~30015~45154.2刻线宽度及宽度差固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为(0.08---0.20)mm，刻线宽度差一般不大于0.03mm。4.3微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离一般不大于0.4mm，见图5中a。圄5内尺寸千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离3,JJF1411-20134.4微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置当微分筒零刻线与固定套管纵刻线对准后，微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的右边缘应相切，若不相切，压线一般不大于0.05mm，离线一般不大于0.1mm。4.5测量面的表面粗糙度测量面的表面粗糙度一般不大于Ra0.20μm。4.6量爪测量面的圆弧半径及素线平行度测量内尺寸千分尺量爪测量面的圆孤半径一般不超过测量下限尺寸的一半。内测千分尺及电子数显内测千分尺测量面素线的平行度，见表30表3肉测干分尺素钱平行度测量范围/mm测量面素线的平行度/μm二三5-30225-50250-75375-1003100-1254125-1504150-20044.7示值误差测量内尺寸千分尺的示值最大允许误差应符合表4规定。表4测量内尺寸千分尺的示值误差口1m被校尺的名称测量范围示值最大允许误差二三5-30士0.00725-50士0.00850-75士0.009内测千分尺75-100士0.010100-125士0.011125-150士0.012二三5-50士0.00550-100土0.006电子数显内测千分尺100-150士0.007150-200士0.008二~6-50土0.00450-100土0.0