P管制图

P管制图P图是用来测量在一批检验项目中不合格品（缺陷）项目的百分数。1收集数据1-1选择子组的容量、频率和数量子组容量：子组容量足够大（最好能恒定），并包括几个不合格品。分组频率：根据实际情况，兼大容量和信息反馈快的要求。子组数量：收集的时间足够长，使得可以找到所有可能影响过程的变差源。一般为25组。1-2计算每个子组内的不合格品率（P）P=np/nn为每组检验的产品的数量；np为每组发现的不良品的数量。选择控制图的坐标刻度1-3选择控制图的坐标刻度一般不良品率为纵坐标，子组别（小时/天）作为横坐标,纵坐标的刻度应从0到初步研究数据读读数中最大的不合格率值的1.5到2倍。1-4将不合格品率描绘在控制图上a描点，连成线来发现异常图形和趋势。b在控制图的“备注”部分记录过程的变化和可能影响过程的异常情况。2计算控制限2-1计算过程平均不合格品率（P）P=（n1p1+n2p2+…+nkpk）/(n1+n2+…+nk)式中：n1p1；nkpk分别为每个子组内的不合格的数目n1；nk为每个子组的检验总数2-2计算上下控制限（USL；LSL）USLp=P+3P(1–P)/nLSLp=P–3P(1–P)/nP为平均不良率；n为恒定的样本容量注：1、从上述公式看出，凡是各组容量不一样，控制限随之变化。2、在实际运用中，当各组容量不超过其平均容量25%时，可用平均样本容量n代替n来计算控制限USL；LSL。方法如下：A、确定可能超出其平均值±25%的样本容量范围。B、分别找出样本容量超出该范围的所有子组和没有超出该范围的子组。C、按上式分别计算样本容量为n和n时的点的控制限.UCL,LCL=P±3P(1–P)/n=P±3p(1–p)/n我公司是从事机械加工的，不合格品以件数统计，每天统计的数量相差很大（肯定超过25%的范围），根据上面这种方法没办法做控制图，各位教教我怎样做?谢谢填写您的邮件地址，订阅6SQ质量周刊：转载请注明出自(六西格玛品质网),本贴地址:　不良率管制图的统计理论基础为二项分配，假设制程处于稳定状态，制程中不符合规格的机率为必而且连续生产之各单位是独立的，因此每一生产的单位可以看成是白努利随机变数，其参数为p。假如随机抽取n个样本，D是样本中之不合格品数，则D属于二项分配，其参数为n及p亦即随机变数D的平均数与变异数分别为np及np(1−p)。样本不良率之定义为：样本中不合格品数目D与样本大小n之比值　　随机变数的分配从二项分配得知，因此的平均数与变异数分别是μ=p　　假设y为量测品质特性之样本统计量，y之平均数为μy，标准差为σy，则苏华特管制图的一般型式为：UCL=μy+kσy中心线=μyLCL=μy−kσy　　其中：UCL表示控制图的上控制界限;LCL表示控制图的下控制界限;[编辑]不良率管制图的使用条件由于不良率管制图主要管制制程不合格率必所以也称为p管制图，此管制图虽然是用来管制产品之不合格率，但并非适用于所有之不合格率数据。在使用不良率管制图时，要满足下列条件:　　1.发生一件不合格品之机率为固定。　　2.前、后产品为独立。如果一件产品为不合格品之机率，是根据前面产品是否为不合格品来决定，则不适合使用p管制图。　　3.如果不合格品有群聚现象时，也不适用p管制图。此问题通常是发生在产品是以组或群之方式制造。例如在制造橡胶产品之化学制程中，如果烤箱之温度设定不正确，则当时所生产之整批产品将具有相当高之不合格率。如果一产品被发现为不合格，则同批之其他产品也将为不合格。[编辑]不良率管制图实际使用可能的情形　　1.不良率p已知　　假设不良率p已知，或p值由管理人员决定，则不良率管制图的参数计算如下：　　　　中心线＝p　　　　p管制图之实施步骤包括抽取n个样本，计算样本不良率，并将点在图上，只要在管制界限内，且不存在系统性、非随机性的变化，则可认为在水准p下，制程处于管制内(incontrol)。假设有任一点超出管制界限，或者存在非随机性变化的情形，则表示制程的不良率已改变且制程不在管制内(outofcontrol)。　　2.不良率p不知　　若制程不良率p未知，则p值需从观测数据中估计。一般的程序是初步选取m组样本为n的样本，通常m为20或25，假设第I组样本含有Di个不合格品，则不良率为：　　　　全体样本之平均不良率为　　　　统计量为不良率p的估计值。p管制图中心线及管制界限之计算为：　　　　中心线＝p　　　　以上所得的管制界限称为试用管制界限(trialcontrollimits)，它可先试用于最初的m组样本，来决定制程正否在管制内。为了测试过去制程在管制内的假设，我们可先将m组样本之不良率分别绘在管制图上，然后分析这些点所显示的结果。若所有的点均在试用管制界限内且不存有系统性的模型则表示过去制程正在管制内，试用管制界限能够延用于目前或未来的制程。　　假设有一点或更多点超出试用管制界限，则显示过去的制程并非在管制内此时必须修正试用管制界限。其作法是检查每一个超出管制界限的点找出其非机遇原因，然后将这些点舍弃，重新按相同之方法算出管制界限并检查在图上的点正否超出新的管制界限或存有非随机性的模型。若有点超出。新的管制界限外，则须再修正管制界限，直到所有的点均在管制内。此时的管制界限才能延用于目前或未来的制程。[编辑]不良率管制图实例　　【例】某除草机制造商以p管制图管制除草机在发动时是否正常。该公司每天抽取40部做试验，第一个月之数据如下表所示，试建立试用管制界限。日期不合格品数日期不合格品数日期不合格品数日期不合格品数123456431232789101112130124131415161718723328192021220132　　【解】由于每天抽样之样本数均相同，因此不合格率之平均值可以利用下式计算:　　管制界限为由于LCL0并无意义，因此我们将LCL设为0其p管制图如下:　　最简便的cpk计算公式悬赏分：50|提问时间：2007-12-619:20|提问者：chenzhengy99|问题为何被关闭求CPK计算公式，要求简便易懂，呵呵，我这么比较笨！！可别写什么cpk＝Min[(USL-AVG）/3*δ,(AVG-LSL)/3*δ]CPK=Min{（TU-X）/6σ，（X-TL）/6σ}哦，我要最简便的公式其他回答共1条制程能力指数制程准确度Ca制程精密度Cp制程能力Cpk估计不良率ppm计量值公式统计数值直方图制程能力分析图X-R管制图XMED-R管制图X-s管制图X-Rm管制图计数值公式推移图分析p管制图1-p管制图np管制图c管制图u管制图dppm管制图附录柏拉图抽样分配常数表管制界限系数综合制程能力指数Cpk：同时考虑偏移及一致程度。Cpk＝(1－k)xCp或MIN{CPU,CPL}Ppk＝(1－k)xPp或MIN{PPU,PPL}(X–μ)K＝|Ca|＝——————(T/2)PS.制程特性定义单边规格(设计规格)因没有规格上限或下限没有规格下限Cp＝CPU＝Cpk没有规格上限Cp＝CPL＝Cpk评等参考当Cpk值愈大，代表制程综合能力愈好。等级判定：依Cpk值大小可分为五级等级Cpk值处理原则A+1.67≤Cpk无缺点考虑降低成本A1.33≤Cpk≤1.67维持现状B1≤Cpk≤1.33有缺点发生C0.67≤Cpk≤1立即检讨改善DCpk≤0.67采取紧急措施，进行品质改善，并研讨规格