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承压设备无损检测第2部分：射线检测1、范围（标准23页）（1）A级——低灵敏度技术；AB级——中灵敏度技术；B级——高灵敏度技术系指检测的技术等级，而不是底片的质量分级。（2）承压设备的有关支承件和结构件的对接焊接接头的射线检测，也可参照使用。（应在报告中注明）2、规范性引用文件GB/T19348.1—2003无损检测工业射线照相胶片第1部分：工业射线胶片系统的分类GB/T19348.2—2003无损检测工业射线照相胶片第2部分：用参考值方法控制胶片处理3、一般要求3.1.对从事射线检测人员上岗前应进行辐射安全知识的培训并取得放射工作人员证要求。（1）对已取得国家质检总局或要取得国家质检总局所颁发的无损检测资质单位的射线检测人员均应有《放射工作人员证》（2）对其他单位（制造、安装和检验）现场操作人员应有《放射工作人员证》3.2.对射线胶片的要求（标准23、24页）（1）按胶片系统进行分类，不是按胶片的感光速度分类。胶片系统包括了胶片、增感屏和冲洗条件。（2）胶片的选择与检测的技术级别、检测对象的材质（强度）和射线源的种类有关。（3）胶片的选择原则（a）A级和AB级检测技术不得低于T3类、B级检测技术不得低于T2类（b）采用γ射线允许采用T3类胶片，但灵敏度应满足要求。3.3.对观片灯的要求（标准24页）（1）观片灯的主要性能指标除了亮度以外还包括:亮度的均匀性、外壳温度、噪声、绝缘程度等（2）观片灯亮度和照度的关系，即140000lx——45000cd/m2（3）当底片评定范围内的黑度≤2.5时，观片灯的亮度不应低于9400cd/m2、当底片评定范围内的黑度2.5＜D≤4时观片灯的亮度不应低于100000cd/m23.4.黑度计（光学密度计）黑度计属于自校验仪器，不是强制校验设备而标准黑度片是要强制检验的。黑度计的校验应有记录并有校验者和审核者签字，保存到下一校验周期。校准黑度计用的标准黑度片必须在有效期内。（2年）3.5.增感屏（标准24页）对表1的理解（1）当采用X射线照相（100-500KV）应选用铅增感屏，增感屏的厚度选择仅与射线的能量有关。（2）采用Se-75和lr-192射线照相应选用铅增感屏，增感屏的厚度选择仅与检测的技术级别有关。（3）采用Co-60和高能射线照相时，增感屏的厚度选择不仅与检测的技术级别有关而且还与增感屏的材料有关。（4）AB级或B级检测技术使用前屏≤0.03mm真空包装胶片时，另有规定。（仅限于γ射线）3.6.像质计（1）取消了象质指数“Z”的概念，用线径或线号表示底片的灵敏度。（2）应根据检测技术级别、透照方式和像质计摆放的位置及公称厚度（T）透照厚度（W）确定像质计灵敏度3.7.表面要求和射线检测时机（1）应在射线检测报告和检测工艺卡中注明检测时机。（2）所谓适当修整是指打磨或较浅补焊。3.8.对射线检测技术等级选择的理解（1）承压类设备的制造、安装、在用的检测技术级别一般不应低于AB级。（2）承压设备在用检测特殊情况下可以采用A级检测技术。（3）检测方技术负责人系指无损检测单位的技术负责人，如是制造、安装单位或检验单位，检测方技术负责人是指该单位的总工程师或分管技术的领导。（4）有效措施一般包括：高类别胶片、提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度的控制散乱射线等措施。（5）对在用设备如采用A级检测技术应补充其他检测方法进行检测。返修焊缝应采用AB级或达到AB级灵敏度3.9.辐射防护（1）现场进行Ｘ射线检测或进行γ射线检测时对辐射防护提出了不同的要求。（2）尽管两个标准的某些条款内容相同或相近，但在使用中不能相互代替。4、具体要求4.1.对透照布置的理解（1）透照方式不能任意选取，在可以实施的情况下必须选用单壁透照方式。（在用设备）（2）单壁透照最有利于发现缺陷，但并不是最便捷的透照方法。（3）对《在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式》要有正确的理解，不能实施时主要针对工况条件和检验检测单位的资源条件而言，不是指最佳的透照方式。（4）一次透照长度的确定不仅与检测的技术级别有关而且还与焊接接头的类型有关（5）其他方式透照环向对接接头时，有不能实施的部位即阴影区。4.1.4关于小径管环向对接焊接接头的透照布置（1）双壁双影椭圆成像的实施原则，即T（壁厚）≤8mm、g（焊缝宽度）≤Do/4（Φ60×5mm）（2）椭圆成像有困难一般是指焦距不满足要求。（3）为控制影像的开口宽度应采用偏心距法4.1.5对小径管环向对接接头的透照次数的理解（1）小径管的透照次数与管外径和壁厚有关，与检测技术级别无关（2）规定小径管的透照次数的主要目的是控制透照厚度比。（3）对小径管扩大缺陷可检出范围的有效措施一般包括：双胶片技术、适当提高管电压、窗口加滤波板（4）当Do≤20mm、T≥8mm、g＞Do/4重点检查根部裂纹或未焊透时应采用垂直透照4.2射线能量（标准26页）（1）不同材料、不同透照厚度允许采用的最高Ｘ射线管电压与检测技术级别无关。（2）控制Ｘ射线管电压的目的是保证底片的对比度，避免影响小缺陷的检出率。（3）截面厚度变化大的承压设备系指（以AB级T3类胶片为基准，如较厚部位黑度为2.0，而较薄部位的黑度大于4.0）（4）小径管的最高管电压不应超过最高管电压的限值。4.2.2对γ射线源和高能Ｘ射线适用的透照厚度范围应符合表4规定的理解。（标准27页）（1）鼓励和提倡采用源在内中心透照方式尽可能实现单壁透照，同时也有利于横向裂纹的检出。（2）其他透照方式包括：双壁双影、双壁单影、内透法F＞R、F＜R（3）经合同各方同意的主要目的是对‘放宽最小透照厚度’要慎重（4）其他透照方式‘放宽最小透照厚度’与技术级别有关（仅限于A级AB级）（5）采用Ir-192源中心透照时最小透照厚度可为10mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm时，即使合同各方同意也不能实施。采用其他透照方式当透照厚度小20mm时，应经合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm时，即使合同各方同意也不能实施。（6）采用Se-75源中心透照时最小透照厚度可为5mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于5mm时，即使合同各方同意也不能实施。采用其他透照方式当透照厚度小10mm时，应经合同各方同意。如最小透照厚度小于5mm时，即使合同各方同意也不能实施。（7）有效补偿措施包括：高类别的胶片、适当提高底片黑度、提高增感屏的厚度、散射线的屏蔽。4.3射线源至工件表面的最小距离（标准27页）（1）确定射线源至工件表面的最小距离与检测技术级别有关。（2）当采用内透法时，f值的减小量仅与透照方式有关，而与检测的技术级别无关。（3）这样规定的目的是鼓励和提倡采用内透法特别是中心内透法。体现了采用单壁透照的原则。减少透照厚度，有利与检验缺陷；减少照射角，有利裂纹检出。4.4关于确定曝光量（标准29页）（1）曝光量不是定值，可以随焦距的变化而变化。（2）曝光量的确定不仅与焦距有关而且还与检测技术级别有关（3）采用γ射线源透照时,总的曝光时间应不少于输送源往返所需时间的10倍。这是因为γ射线源透照时，在某一时段焦距是在不断变化，为保证底片质量，从而确定了总的曝光时间4.5曝光曲线（1）曝光曲线是针对X射线机，每台X射线机必须有曝光曲线且不能混用（2）射线设备重要部件是指X射线管和高压包。（3）无损检测所使用的仪器设备不属于强制检验的范畴，可以自校验，但是应编制符合要求的自校验规程或作业指导书4.6无用射线和散射线屏蔽（1）屏蔽和控制散射线与检测技术级别无关（2）背散射检查的前提条件（初次制定的检测工艺或当在使用中检测工艺的条件、环境发生改变。对不是初次制定的检测工艺或在使用中检测工艺的条件、环境未发生变化时，不用每次都进行背散射检查（3）在薄工件或不用增感屏时，有时会出现黑度高于周围背景黑度的“B”字影像4.7关于像质计的使用（1）只有在单壁透照，象质计放在胶片测时才进行对比试验，其他方式均不用做对比试验（3）在像质计摆放原则中对1/4处是一个相对概念。（4）根据透照方式的不同规定了像质计应摆放的位置（5）像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧仅限于小径管双壁双影时使用。（5）小径管即可以选用通用线型像质计也可以选用专用线型像质计。（6）对像质计的观察一般在母材上而不是在焊缝上。（考虑深槽焊）（7）当象质计放在胶片测时，应在检验报告像质计灵敏度一栏中注明4.8标记（1）该标准未对返修标记,扩大检测比例的扩大检测标记作出统一规定。因此应在工艺文件中对返修标记、扩大检测标记以及搭接标记的符号作出明确规定（2）应根据射线源、工件、胶片的相互位置按附录G规定放置搭接标记。（3）小径管双壁双影或垂直透照不用搭接标记。（4）不是100％透照的焊接接头也要放置搭接标记。（有效区段标记）4.9胶片处理（1）手工冲洗方式处理是指槽洗不是盘洗。（2）推荐采用自动冲洗方式处理的目的是尽量防止采用增加或减少显影时间来控制底片的黑度。（3）在工艺文件中要明确胶片处理的方式和处理的条件。（4）采用自动洗片机时要经常清洗防止产生划伤。。4.10对评片要求规定的理解（31页）（1）增加评片暗适应过程规定的目的是光强的突然变化会使人的视觉灵敏度下降从而造成评片时的漏检。（2）评片室不能全黑，一般要等于或略低于透过底片光的亮度。（3）观片灯的亮度必须可以调节，观片灯应有足够的照明区一般是300×80mm4.11底片质量（1）底片评定范围内的黑度与技术级别有关。（2）只有当用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，黑度才可降低而且与技术级别有关（AB级最低黑度允许降至1.5；B级最低黑度可降至2.0）（3）允许黑度降低的前提条件；只能是工件（三通、弯头）不能是设备的焊接接头。（4）双胶片技术一般是指两张感光速度不同的胶片也可以是两张感光速度相同的胶片（5）采用双胶片观察时与检测的技术级别有关，AB级、B级不能采用双片观察（6）小径管只有在黑度大于1.5以上的区域是有效评定范围（X射线、AB级）（7）当底片评定范围内的黑度大于4时需有计量检定报告证明底片评定范围内的亮度能够满4.10.3的要求时，才允许进行评定。4.11.3关于底片的像质计灵敏度（1）底片的像质计灵敏度不仅与检测技术级别有关，而且还与透照方式、公称厚度、透照厚度以及像质计摆放的位置有关。（2）除单壁透照像质计放在胶片侧外，其他形式的底片像质计灵敏度均可从表中查出。（3）当对接接头两边的公称厚度不等时以较薄为准，底片的像质计灵敏度不能按穿透厚度计算。5承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级（1）必须是对接接头，其适用范围和厚度（碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍基合金、铜和铜合金。厚度2mm～400mm、2mm～80mm。（2）焊接接头质量分级中所指的厚度均是指母材的公称厚度。（3）以对接接头中存在缺陷的性质、数量和密集程度进行质量分级与技术级别无关。（4）圆形缺陷评定区的尺寸要根据公称厚度确定。（5）在确定圆形缺陷严重部位的数量时，评定区应与焊缝平行。（6）圆形缺陷的长径大于T/2时应注明其尺寸。（7）圆形缺陷放宽的原则圆形缺陷的放宽不能是普遍现象只能是个别现象，如果对圆形缺陷放宽应在检测报告的附件中说明圆形缺陷的实际点数，以及放宽的理由和依据。（8）致密性要求高的对接焊接接头是指一旦泄漏将会发生起火、爆炸或严重污染环境的焊接接头。（9）制造方底片评定人员：（包括检验检测，设备制造或安装单位的评片人员）（10）只有对薄板焊接接头评定时当圆形缺陷的黑度明显大于母材的黑度时才能定义为深孔（并在报告中注明）（11）监检人员以及第三方抽检一般不考虑将圆形缺陷的黑度作为评级的依据。5.1.6条形缺陷的质量分级（1）条形评定区的宽度与母材的公称厚度有关（T≤25mm.4mm、100mm≥T＞25mm.6mm、T＞100mm.8mm）（2）对条形缺陷的累计长度规定了最小值。（3）当测定条形缺陷的累计长度时，条形评定区应与焊缝平行。（4）凡在同一直线的条状缺陷应根据间距的情况是否按单个条状缺陷处理（5）当母材公称