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JB/T4730.2-2005的应用以及应注意的问题李伟2010年04月于山东济南第一部分通用要求一、关于不同射线源检测的厚度范围的理解与执行（标准11页表1）1、对射线（不包括高能射线）检测厚度范围的上限应为参考值而不是限定值2、对γ射线检测厚度范围的下限应为限定值而不是参考值二、术语和定义（标准第8页）1、关于公称厚度T和透照厚度W（1）在确定公称厚度时不考虑焊缝的余高，也不考虑减薄，加垫板的单面焊在确定透照厚度时不考虑垫板的厚度。（2）应依据透照厚度和检测的技术级别确定像质计灵敏度。（3）应依据公称厚度来确定圆形缺陷评定区和条形缺陷评定区的尺寸。（4）当壁厚不等时已薄工件为准。2、关于底片评定范围和缺陷评定区（1）底片评定范围系指已两搭接标记之间的距离为长，焊缝加焊缝两侧热影响区为宽的范围。（2）缺陷评定区系指圆形缺陷评定区和条形缺陷评定区。（3）圆形缺陷评定区和条形缺陷评定区尺寸的确定仅与公称厚度有关而与检测的技术级别无关。3.关于工件至胶片的距离b；射线源至工件的距离f以及焦距F（1）b值的确定应考虑焊缝的余高（双壁双影时为管子的外径+2余高，双壁单影时为管子公称厚度的+1余高）（2）当采用X射线照相时确定b值时可以考虑射线机窗口到焦点的距离。（3）确定环向对接接头的透照次数时，当采用源在外单壁透照时用f值计算，而采用其他透照方式时应采用F值进行计算。（4）f值和F值的确定不仅与b值和有效焦点尺寸有关而且与检测的技术级别有关。4、关于管子直径D0（1）D0系指管子的外径；（2）计算小径管透照次数，环向焊接接头透照次数，双壁双影计算几何不清晰度，计算椭圆开口间隙时均用到D0（3）容器一般给出的D0系指内径，在计算容器环向对接接头透照次数时应加上两个壁厚。5、关于无损检测通用工艺和工艺卡（1）无损检测通用工艺应根据相关法规、产品标准、有关的技术文件和JB/T4730的要求，并针对检测机构的特点和检测能力进行编制。（2）通用工艺应由持有该项资格的高级人员编制和审核。（3）工艺卡可以由Ⅱ级人员编制和审核。