搜索
教学用电子仪器的环境要求和试验方法1主要内容与适用范围本标准规定了教学用电子仪器产品的环境试验要求和相应的试验方法。本标准适用于主要电子子元器件装配而成的教学仪器产品的环境试验。2引用标准JY0001教学仪器产品一般质量要求3术语3.1扫频速率。在扫频过程中可控变量(通常是频率)对时间的变化率。3.2保护接地端子为了安全目的而与仪器的导电件相连接的端子。该端子应与外部保护接地系统连接。3.3冲击系统受到瞬态激励，其力、位置、速度或加速度发生突然变化的现象。3.4冲击脉冲持续时间冲击脉冲从基准值上升到最大值，再上降到基准值所需的时间（对实测冲击脉冲通常取最大值的10%为基准值。）4环境试验4.1基准条件基准条件数值、公差范围见表1。4.2特殊情况表1基准条件影响量基准数值或范围公差环境温度20℃±5℃相对湿度（45～75）%RH大气压强（8.6～10.6）×104Pa交流供电电压220V±2%交流供电频率50Hz±1%交流供电波形正弦波β=0.05*直流供电电压额定值±1%直流供电电压的纹波△V/V。≤0.1%**外电磁场干扰应避免通风良好阳光照射避免直射工作位置按制作厂规定±1°*β为失真因子，即交流供电电压波形的失真应保持在(1+β)Asinωt与(1－β)sinωt所形成的包络之间。**△V为纹波电压的峰到峰值；V。为直流供电电压的额定值。4.2.1如产品标准与规定的环境条件不一致时，只要比原规定条件更严，应受到鼓励。4.2.2个别影响量的工作范围可以低于规定的要求，但需符合产品的行业标准或经上级主管机关的批准，并在产品说明书中标明。4.3试验项目与要求试验项目见表2。4.4试验前检查4.4.1外观检查外观检查应符合JY0001中第6章规定的要求。4.4.2试验前基本性能特性测试在温度、湿度额定使用条件的室内进行试验，热平衡2h后，接通仪器电源，进行性能测试，应符合产品标准的规定。4.4.3绝缘电阻试验仪器处于非工作状态，电源开关置于接能位置，用500V兆欧表测仪器电源进线与机壳间绝缘电阻应不小于20MΩ。4.4.4电压试验4.4.4.1仪器处于非工作状态，电源开关置于接通位置，仪器电源进线与机守则间馈给试验电压，带保护接地端子的仪器为1.5KV，不带保护接地端子的仪器为3KV进行电压试验。4.4.4.2电压试验装置产生的试验电压应为正弦波形，其失真系数不超过5%，频率为50Hz±5%最大输出电流不小于5mA。试验时，试验电压应逐渐上升到规定值，以免出现明显的瞬变，在规定的电压上保持1分钟，然后平稳下降到零。4.4.4.3电压试验期间，由于电场影响可能受损的半导体器件在检验时，可以开路、短路或用模拟物代替。4.4..5电源电压试验将可调电源输出频率保持50Hz±1%，将电压分别置于198V和242V，并在这两个数值上各自至少保持15min后，测试仪器的性能特性应符合产品的规定。表2试验项目温度贮存范围额定使用范围-40～60℃0～40℃冲击加速度脉冲持续时间冲击次数147m/s26±ms上下左右4个面各1次（共4次）非工作状态半个正弦波湿度额定使用范围贮存范围（浸湿）40℃（20～90）%RH50℃90%RH24H振动（非包装状态）频率循环范围5～33～5Hz0.1mm小于或等于1倍倾斜跌落跌落高度或角度跌落次数50mm或30°以底面4个边为轴各跌落1次（共4次）非工作状态驱动振幅（峰值）扫频速率在共振点上保持时间在共振点上驱动振幅（峰值）工作状态振动方向频程/min5min0.2mm非工作状态垂直方向工作状态运输试验（包装状态）自由跌落高度(按毛重G确定)G≤10kg10≤G≤25kg25≤G≤50kg50≤G≤75kg800mm600mm450mm350mm4.5温度试验确定仪器在规定范围内对温度的适应能力。4.5.1试验要求4.5.1.1试验时各温度阶梯（见图1）之间温度变化的速率通常应小于20℃/h。每一温度阶梯上，应使仪器达到热平衡状态，才能进行测试。热平衡时间至少应为1h。4.5.1.2仪器在高、低温贮存试验时，电源处于断开位置，在高低温箱内至少分别保持4h。4.5.1.3进行温度试验时，高低温箱内的温度应保持恒定均匀，瘟差不超过±2℃，容积至少为受试仪器的2倍。4.5.2试验方法4.5.2.1仪器的温度试验应按下面的温度循环试验时序图(以下简称时序图)进行。4.5.2.2基准工作条件温度测试；在基准条件下的高、低温箱内或室内进行试验，热平衡后，接通仪器电源。经预热后进行性能特性测试。4.5.2.3贮存条件下限温度试验：仪器处于断电位置，使高低温箱内温度降至时序图中相对应阶梯的温度数值，至少保持4h。4.5.2.4工作范围下降温度试验：仪器电源处于断开位置，使高低温箱内温度升至时序图中相对应阶梯的温度数值，热平衡后，接通仪器电源，经预热后，进行性能特性测试。4.5.2.5基准工作条件温度试验：将高低温箱内温度升到基准温度，热平衡后，接通仪器电源，经预热后，进行性能特性测试。为保证仪器不致凝水，可降低温度回升速率或采取其它不违背温度试验目的的措施。图1温度循环试验时序图4.5.2.6贮存条件上限温度试验：仪器处于断电位置，使高低温箱内温度升至时序图中相对应阶梯的温度数值，在箱内至少保持4h。4.5.2.7工作范围上限温度试验：仪器电源处于断开位置，使高低温箱内温度降至时序图中相对应阶梯的温度数值，热平衡后，接通仪器电源，经预热后，进行性能特性测试。4.5.2.8基准工作条件温度试验：使高低温箱内温度升至基准温度。经热平衡后，在基准条件下接通仪器的电源，进行性能特性测试。4.5.2.9仪器性能特性的测试，如果受条件的限制，也可以只在温度试验结束后进行一次性能测试。4.5.3试验结果4.5.3.1上述试验过程结束后，对仪器进行目测检查，应无锈蚀、裂纹、涂覆层剥落等损伤；文字和标志应清晰；控制机构应灵活；紧固部位应无松动；塑料件应无起泡、裂开、变形以及灌注物应无溢出现象。4.5.3.2性能特性应符合产品标准的规定。4.6湿度试验确定仪器对湿度以及在温湿度条件下的适应能力。4.6.1试验要求4.6.1.1试验时，在各湿度阶梯(见图2)中，应使仪器热、湿平衡后，进行性能特性测试，热、湿平衡时间至少为1h。4.6.1.2潮湿箱中空气应能均匀地循环，容积至少为受试仪器的2倍，以保证在规定时间内箱内温度变化不超过±2℃，湿度变化不超过3%，并应防止凝水落到受试仪器上。4.6.1.3仪器应无包装，按正常位置放置。4.6.1.4仪器中如有对湿度特别第三的元器件、软件(如磁带、磁盘、纸带)时，允许取出或采用其它措施代替。4.6.2试验方法4.6.2.1各组仪器的湿度试验应按湿度循环试验时序图(以下简称时序图)进行。4.6.2.2额定使用范围湿度试验：仪器电源开关置于断开位置，使潮湿箱内的温、湿度升至时序图中对应阶梯的数值，热平衡后接通电源，经预热后进行性能特性测试。若受条件限制，此项可以不作。4.6.2.3贮存条件湿度试验：仪器电源开关置于断开位置，使潮湿箱内的温、湿度升至时序图中对应阶梯的数值，按表2中规定的贮存时间进行贮存。4.6.2.4绝缘电阻试验：仪器电源开关置于接通位置，但不接入电网，使潮湿箱内的温度降至时序图中对应阶梯的数值，经热平衡后，立即用500V兆欧表测试仪器电源进线与机壳间的绝缘电阻，对带保护接地端子的仪器应不小于2MΩ,4.6.2.5基准工作条件湿度试验：仪器处于断电状态，使潮湿箱内的温、湿度降至基准工作条件。恢复12小时后，在基准条件下接通仪器电源进行性能特性测试。4.6.3试验结果4.6.3.1上述试验结束后，对仪器进行目测检查，应无锈蚀、涂覆层剥落等损伤；文字和标志应清晰；控制机构应灵活；紧固部位应无松动；塑料件应无起泡、裂开、变形以及灌注物应无溢出现象。4.6.3.2性能特性应符合产品标准的要求。图2湿度循环时序图4.7振动试验确定仪器的紧固耐久程度，通过试验来观察仪器构造能否经得起正常工作时的应力以及装卸、运输时的应力，并为产品设计提供共振、共振传递等方面的依据。4.7.1试验要求4.7.1.1提交受试的仪器及附件必须是在非包装状态下进行试验。4.7.1.2受试仪器必须经受垂直的振动实验。4.7.1.3按表2规定的试验条件进行。4.7.2试验方法4.7.2.1固定受试仪器时，应模拟仪器正常工作时的位置紧固在振动台上(受试仪器的重心应位于振动台面的中心区域)，应使激振力直接传给受试仪器机体，而不要经过减振脚、把手或其它缓冲装置。4.7.2.2应避免紧固受试仪器的装置件(螺栓、压板、压条等)在振动试验中产生自身共振。4.7.2.3如找不到共振点，在振动频率为30Hz，振动幅度为0.2mm的情况下振动10分钟。4.7.3试验结果4.7.3.1上述试验结束后，应对受试仪器进行目测检查，机械构件不应有破裂、明显变形或紧固件松动等现象。4.7.3.2试验结束后，对受试仪器进行性能特性测试，应符合产品标准化要求。4.8冲击和倾斜跌落试验4.8.1试验要求4.8.1.1受试的仪器或附件必须是在非包装状态下进行试验。4.8.1.2按表2规定的试验要求进行。4.8.2试验方法4.8.2.1在进行冲击试验时，受试仪器应牢固地固定在冲击台上，应使冲击力直接传给受试仪器的机体，而不允许经过减振脚、把手或任何其它缓冲装置。4.8.2.2冲击试验应按表2中规定的数值在冲击台上进行。4.8.2.3倾斜跌落试验，应按表2中规定的数值，在水泥地面上垫上一张厚为20mmm的胶合板上进行。胶合板应与水泥地面保持刚性接触，分别是以受试仪器底面的每一个边为轴，把相对应的一边抬高到规定的数值(高度或角度的选取是以先满足者为准)，然后使仪器自由跌落。如果受试仪器允许有一个以上的工作状态时，则各位置均应按上述同样的方法进行试验。4.8.3试验结果4.8.3.1对受试仪器进行目测检查，机械构件应无破裂、明显变形；电气部件应无明显位移或脱落等现象。4.8.3.2试验结束后，应对仪器进行性能特性测试。应符合产品标准的要求。4.9运输试验考核运输包装对仪器的保护能力；考核运输包装本身的强度。4.9.1试验要求4.9.1.1提交受试的仪器及附件必须是完整包装状态。4.9.1.2本试验是以跌落试验的形式进行，按包装后的毛重，分别规定跌落的高度见表2。4.9.2试验方法4.9.2.1首先使仪器按正常运输状态，以包装箱底面向地面作自由跌落(初速度为零)，跌落3次，然后将前、后、左、右4个面分别朝下各跌落1次，共计跌落7次。4.9.2.2跌落试验时应使包装箱受试面平行于水泥地面，按自由落体下跌。4.9.3试验结果4.9.3.1在跌落试验结束后，包装箱不应有较大的变形和损伤。4.9.3.2受试的仪器不应有变形、松脱、涂覆层剥落等机械损伤。4.9.3.3受试仪器跌落试验后，应对其性能特性进行测试，并应符合产品标准的规定。4.10仪器性能特性的测试，如果受条件的限制，也可以只在振动、冲击和运输试验结束后进行一次性能特性测试。附加说明：本标准由全国教学仪器标准化技术委员会提出并归口。本标准由国家教育委员会教学仪器研究所和四川省教学仪器设备公司负责起草。本标准起草人：沈英琪陈远顺何振华