1歡迎參加ICT培訓課程东之源2ICT工作原理介紹ICT工作結构圖与測試原理Guarding原理頻率法&相位分离技術三端&四端測試原理R、C、L、D測試原理不可測情況針床制作A.選點E.植針套B.編號F.連線C.選針G.組合針床D.鑽孔實際操作程序編寫除錯培訓課程安排3ICT測試原理簡介4ICT工作結构圖凝聚精華連接未來待測体S/W卡MEAS卡I/O卡POWERK/BCRTHDDPRINTPC探針Fixture卡針床PCBoard5ICT測試原理凝聚精華連接未來IdutVoIdut=-Vo/RfVs利用運算放大器來測試計算待測體的數值,其中DUT為待測體,VS為測試信號源,Rf為倍率電阻.Vo=-Idut.RfDUTRf6隔离技術RfAR1(待測体)BI4=0Vo+R3I2=0R2CED利用OPAMP(運算放大器)輸入阻抗為無窮大的特性,即Ri∞,則I4=0,推出UE=UB;因I=I1+I2,將C.D兩點短路,得出UC=UB,則I2=0,即達到隔离效果.R1=Ri=-Vi/I(=-Vi.Rf/Vo)ViI1I3I7頻率法凝聚精華連接未來根據電容﹒電感﹒電阻對不同頻率其阻抗的不同變化原理測試出C並聯R,L並聯R的值1Xc=2fcXl=2fl8RCL相位量測原理V,I0-90°+90°ViILIRIc相位角ØVi:輸入電壓IR:通過電阻電流Ic:通過電容電流IL:通過電感電流當R並C或R並L時﹐由於通過R與C(或L)的電流﹐會有900的相位差.利用此電位差來分別量出電阻與電抗所形成的電壓﹐從而計算出R與C(或L)9電阻的測試方法定電流測試法VmVR=I定電壓測試法V可解決大電容並聯問題相位測試法利用通過R與C(或L)的電流¸會有90°的相位差原理¸分別量測出電阻與電抗所形成之電壓¸而計算出R值。RCLRfVoViRt10電容的測試方法交流信號源測試法V相位測試法利用通過C與R的電流¸會有90°的相位差原理¸分別量測出電阻與電抗所形成之電壓¸而計算出C值。RCACRMS/DCVoViRfC直流定電流測試法IVtVt11電感的測試方法交流信號源測試法相位測試法利用通過L與R的電流¸會有90°的相位差原理¸分別量測出電阻與電抗所形成之電壓¸而計算出L值。RL利用Xl=2fl原理¸計算出L值。12二極體與IC的測試法VmVpn=200~700mV普通二極管穩壓二極管VmZENER可按普通二極管來測試﹐亦測試其崩潰電壓IC的測試方法G保護二極體類似測二極體的方式﹐因IC腳大多與地腳(或電源)之間有一個保護二極體。13Vm+Vce-Vs1Vce0.2~1.0v三端測試和四端測試法四端測試(如光耦,繼電器)VmVce200mV三端測試14難測或無法量測之情形電容與電感並聯:無法量測小電容與大電容並聯:小電容無法量測二極管與電感並聯:二極管無法量測與大電容並聯之電阻或穩壓二極管:需衡量Delaytime與量測與否之決擇。與IC連接之零件:由於無法在IC內部Guarding,若量測值不穩定或誤差過大,可考慮不測小電阻與大電阻並聯:大電阻無法量測15傳統ICT電解電容極性測試方法介紹二端測試法(漏電流法)三端測試法(量阻抗法)HPTestJet(感應法)+M~Z-Z++I++I-+16FFTDFT革命性的ECTestJet電解電容極性判別法DSP~MDigitalSignalProcessing數位訊號處理F(freq.)VSTDT(time)V激發訊號T(time)V反應訊號PatternMatchDUTF(freq.)V17BGA可測率比較HPTestJetESTestJetAAdAC24rqEεε可測率趨近100%100fF以下測試不穩定一般ICBGA18開關卡最新趨勢凝聚精華連接未來開關卡是直接與待測板接触,一般是單用CMOS或是RELAY,而本機是目前最新技術CMOS+RELAY,采用二者优點而擯棄其缺點的最新机型.設計方式接點電阻轉接速度接點壽命接點耐壓性消耗電壓CMOS設計30歐姆很快*較長*7.5V很少*RELAY設計1歐姆*較慢較短30V*較高19探針與針床介紹20A.選點B.編號C.選針E.植針套D.鑽孔F.連線G.組合針床針床制作有二种方式自動化(軟件自動選點、數位鑽孔)手工式(以下介紹此种方式)ICT針床制作21材料:1﹑空白板与實物板2.﹑紅黑色白板筆選點選點及描點將要植針的點用紅色筆涂上﹐此銅箔其它不植針點用黑筆涂上﹐這樣可避免多選點及漏選22將選好點的空白板與空白紙﹑透明白紙固定好﹐用長針刺每個要植針的紅色孔﹐拆開後用紅色筆在紙上涂畫各針孔。按電路板的大小劃分區域﹐將板及紙同樣畫出區線﹐並編上區號(ABC1.2.3)在白紙上用鉛筆按區將各點用線連接起來按順序將各點編上號碼。再將各點號對應寫在透明紙上(過塑即為點圖)編號材料:空白紙及透明紙長針﹑鉛筆﹑細簽字筆﹑紅色筆23在ICT治具上,由于零件板的測試條件及測試點的接触不同情況,為了提高接触效果及測試數值的准确穩定性,要考慮以下几個探針的因素。頭型(HEADSTYLE)彈力(SPRINGFORCE)尺寸(SIZE)選針24鑽孔准備二塊空白板(一張標有鑽孔點)及有機玻璃(也稱壓克力)。固定好二塊空白板及有机玻璃(准位重疊),二塊空白板重疊的目的是使鑽孔位偏差較小及較垂直.用電鑽頭對著鑽孔點鑽孔.注意﹕因孔位略有偏差會導致探針接触不到焊點﹑錯點或兩支探針短路,故鑽孔技術要求高,可交數位鑽孔公司鑽孔。25用植針套套在針套上,用鐵錘將針套打入有机玻璃之孔眼植針套材料和工具:針套鐵錘植針套注意事项:植套時要小心對准孔位,均勻用力慢慢敲進,不要將針套打歪打坏針套的植入深度要夠針套植入后不能有松動的現象,否則要選另一孔位或想法使其牢固。26材料和工具繞線槍OK線牛角頭插座(64P)連線使用繞線槍用OK線將每一點的針套与相對應的牛角頭插座的屏針連接起來27做一個防護板(載板)做好各支架部分如圖將各部件固定需裝上固定防護板柱(下有裝彈簧),固定電路板柱(有机玻璃),電路板定位孔柱,以使電路板可准确對位。將各探針植入針套組合針床材料:有机玻璃固定柱彈簧螺絲探針28實際操作29如何編寫程式選擇EditMenu中的QuickEdit進入快速編輯畫面,然后一步一步輸入測試資料:PartNo:測試零件的編號ActualValue:測試零件的標稱值Location:測試零件板子上的位置Point+、Point-:測試零件的兩個測試點號EDITFILENAME:C:\ES-680\CCD01.ICTStepPartNoAct_ValLcPin+Pin-0001D101700.0mV1A81260002R10133.00k2A12130003R102100.0k1B1330程序如下(假設上板各元件數值如下):STEPNO.Std_ValLocation*TMP+P-*(Guard)001R110k1BR57002R2101BR611003R310K2CR103004C1200u1BC43005C210u2BC73006C31000u2CC113007D1700mV1AD31008D2700mV1AD14009D3700mV2AD32010D4700mV2AD24011L110uH1BL/R45012VR120K1CR1110013ZD13V2CZEN83014Q2200mV2BTR789(基極)015Q1200mV1BTR567(基極)程序編寫樣例注:在快速編輯中沒有“TM”“Guard”經過學習﹑調試后即可使用31DEBUG畫面的軟体說明當Learning完成之后,還有一些Component無法測到,此時就必須使用Debug來修改,Debug的畫面和QuickEdit相似,但項目比QuickEdit更多,增加的項目為:TM:TESTMODE測試模式Std-Val:StandardValue零件的標准值Mea-Val:MeasuringValue測試值Dly:Delaytime測試的延遲時間T+:HighTolerance誤差上限T-:LowTolerance誤差下限M:Mask若設定Mask則表示此Step不判斷T:設定電晶体NPN/PNP,FET的P/NChannel或可變電阻測試模式:V-VR、N-NPN/N、P-PNP/PG:Guard進入Guard的畫面來輸入GuardPointS:Scale測試檔位32DEBUG順序SingleStepLearnPressF8toreversePIN+、PIN-D、IC、ZEN、TR、PHOModeChangeScale當測RScale為6、7(ConstantVTest)Scale8(ConstantITest)D、IC、ZEN、TR、PHO、Mode加DelayTimeFindGuardPoint(參考電路圖)PinFinding(有無錯點或接觸不良)SelectTestModeCC/R,LL/R,RR/LR/C(參考電路圖)Repeata、b、c、d、e、f、g、hChangeStd—Val33針對不穩定STEP解決步驟比照DEBUG順序重做乙次變更測試模式FindGuardPoint(參考電路圖)按Ctrl-F9設定Rep及Average的值改變Tolerance,執行PAGE-TEST确認測試結果Mask註·DelayTime适用時机:a·R、R/C、FET﹑TRb·D、ZEN、IC、PHOc·其它Mode應避免,若必要時應在1-234平時的保養(1)每日注意事項空气壓力必須維持2.5Kg-3Kg壓床高度必須配合治具針床的高度保持机室干燥,遠离灰塵磁碟机須常用專用的清洗片清洗机械杆平時須加潤滑油,保持滑動平穩二點組合的水杯,要常清除杯中之水治具若暫停使用,請擺放在干燥通風之地35電源系統与AC頻率是否設定正确測試程式与治具是否無誤治具排線是否按順序接妥如經過動能測試,請於測試前予以放電壓棒是否壓力平均緊貼於板面,以免壓力不平均造成接触不良探針Stroke須為1/2~2/3左右travel平時的保養平時的保養((22))測試測試時時特特別別注意事注意事項項