电路板编修培训

主題:電路板維修電路板故障分析維修方式介紹ASA維修技術ICT維修技術傳統維修方式的障礙沒有線路圖,無從修起電路板太複雜,維修困難維修經驗及技術不足無法維修的死板,廢棄可惜送電中作動態維修,危險性極高傳統維修方式的障礙備份板太多,積壓資金送國外維修費用高,維修時間長對老化零件無從查起無法預先更換維修速度及效率無法提升,造成公司負擔,客戶埋怨投資大量維修設備,操作複雜,績效不彰類比性故障75%接點不良10%動能故障5%元件功能異常5%其他5%元件故障分佈統計圖態類比性故障：開路、短路、操作不當導致故障,明顯破壞元件的VI特性接點不良：焊點裂化,介面接觸不良,介面接點氧化動態故障：熱效應,時序問題,系統不穩定元件功能異常:元件老化,元件劣化,偏離工作點其它：雜訊抑制能力差,高頻電路阻抗未匹配,電路設計不良接點不良動態故障元件功能異常其它類比性故障維修市場的需求突破示波器,邏輯分析儀等操作困難之問題沒有經驗的新手亦能輕鬆做好維修工作需具備功能強大但操作簡單之特點不需拆零件、不需電路圖、不需送電也能進行維修電路板維修測試技術示波器/電表邏輯分析儀CPU/ROM模擬器BOARDFUNCTIONALTESTERSIN-CIRCUITMEASUREMENT(VI)IN-CIRCUITFUNCTIONALTESTERSASA靜態測試類比信號分析法,可以適用在所有種類的電路板,目前市場的維修主流ICT動態測試電路板內IC功能測試,可以解決ASA無法探索的IC內部問題類比信號分析法(ASA)產生SINEWAVE電壓信號取回測試端電流信號測試端顯示VI阻抗特性曲線類比信號分析法(ASA)不同元件具有不同的VI特性阻抗好的元件與故障元件VI特性阻抗不同利用比較方式找出故障元件沒有線路圖也能維修維修速度快可靠性佳不需供給電源,靜態下測試非常安全,不會造成電路板二次破壞由於操作簡單所以可以彌補維修若在經驗及技術上之不足亦可搭配治具在製程中做品管測試類比信號分析法(ASA)可測試任何型式之電子元件操作簡單,非專業人員也會操作,也可成為維修專家不須加電源至故障電路板,相當安全投資費用低,回收成本高任何特別元件均可檢查不須延伸板維修率達85%特點電阻(RESISTORS)電容和電感(CAPALITORSANDINDUCTORS)電晶體(TRANSISTORS)基極---射極之圖形與齊納二極體相似NPNTRANSISTORBASE-EMITTER基極---射極之圖形與傳統的二極體圖形相似NPNTRANSISTORBASE-COLLECTOR電晶體(TRANSISTORS)基極---射極之圖形類似二極體再串聯一齊納二極體NPNTRANSISTOREMITTER-COLLECTOR電晶體(TRANSISTORS)二極體SIGNALDIODE齊納二極體8.2V齊納二極體8.2VZENERDIODE齊納二極體鐵蕊變壓器一次測FERRITETRANSFORMERPRIMARYWINDING鐵蕊變壓器一次測鐵蕊變壓器一次測操作者可選擇範圍檔中的LOW,MED等頻率檔作為適當的測試頻率。在電容器中,測過的電流愈高,流過的電流愈多,使得產生的圖形垂直部分較大;在電感器中,頻率愈低,流過電流愈多,使得產生的圖形水平部分較大。電阻二極體串聯電路中二極體短路之故障IV洩漏電容IVBUSSHORT(JUNCTIONRANGE)IVIC匯流排短路A0～A7製程中LED接反IV開集極電容故障IVMDAFaults提升電阻故障IVR當連接在電路時,此外部電路(電阻)提升此接腳至VCC0Vcc電路例題:電源供給電路此圖是電源供應器電路的圖形,當其測試變壓器二次側線圈所得圖形如下圖,其使用LOW和LOW頻率檔,圖形有迴圈的部份最主要乃由電容(C1)所造成。而橢圓形傾斜的斜率乃由電路二橿體的電阻所引起,而橢圓兩端的〝膝部形狀〞(KNEES)乃由橋式整流中二極體所造成。COMCHANNELAT1D4D3D1D2C1電源供給電路二次側好的圖形IV二次側D3短路時之圖形IV串聯電路電阻電容二極體電容並聯電路REF227nFDUT2K2ASA測試器ASA測試器並聯電路DUTREFDUTREFDUTREFJunctionrangedev38%圖2cLogicrangedev20%圖2bLowrangedev4%圖2a如果沒有好的電路板該怎麼辦?配合測試治具及電腦存檔能力發揮最大功效不需準備好的電路板儲存好的電路板之所設定參數及資料檔案可附加輔助說明儲存ASA及ICT之測試結果之信號可建立測試結果及報告利用PC控制的優點Board-Learning的優點建立備品板資料庫解決原廠電路板更新版本所造成的困擾以備品板資料庫與待測電路板做比較,因此能大幅提高維修率大幅降低準備備品板所需成本電路板內元件功能測試法(In-Circuit-Functional-Tester)In-Circuit-Functional-Tester輸入端輸入預設的信號或波形判斷輸出端的輸出信號是否正確不需電路圖也可維修不需好的電路板也可維修動態測試,可測出IC內部是否正常BACKDRIVING當送一TESTPATTERN，給待測IC的輸入端，強迫至所要的邏輯狀態，且蓋過此IC原有的靜態邏輯狀態,此種技術稱為BACKDRIVING強迫LOWTOHIGHIsink電流在LowtoHigh時,有一大電流流經地線Isink驅動LOWTOHIGHQ3Q2VccQ1強迫HIGHTOLOWIsource電流流經Q2集極負載,限制了電流流過驅動HIGHTOLOWQ3Q2VccQ1熱Isource數位IC測試標準INTDEFSTAN00-53/1SectionOneGeneralSectionTwoguidetoIn-CircuitTestingSectionThreeBackdrivingLimits目的：1.避免nodeforcingtechniques錯誤使用造成數位元件損壞2.提醒一些潛在問題，提供解決方法GUARD技術測試U1時，可對U2，U3，U4做Guarding動作，使U2，U3，U4不動作，而不會影響U1之測試U462256SRAMU327256EPROMOEOEU2245Bi-DirTranscr11OEOEU1373D-LatchEVcc